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延時采集場測試系統(Time Delayed Collection Field Test System)是用于TDCF實驗的裝置。為了測量樣品在納秒級的瞬態電流，配置了高性能脈沖激光器和高速脈沖發生器。該系統允許用戶顯示光電器件的動態特性，并通過偏壓控制實驗、不同的納米尺度延遲和不同的脈沖波長提取電荷載流子產生、提取和復合的參數。
主要用于有機半導體測試：
Time Delayed Collection Filed Test System (TDCF)
電荷遷移率測試 (TOF)
瞬態光致發光(Tr-PL)
瞬態電致發光 (Tr-EL)
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