看了DDCOM臺式X射線衍射儀的用戶又看了
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DDCOM 用于超快速晶體取向測量
用于晶體取向測量的臺式 X射線衍射儀 (DDCOM) 是一種用于自動測定各種晶體取向的工具。
超快速掃描方法
速度是Theta掃描方法的 200 倍
以3D形式自動評估完整晶格取向
在10秒內(nèi)測定整個晶體取向
高效的質(zhì)量控制工作流程
用于標(biāo)準(zhǔn)研究和工業(yè)工作流程
晶體取向的方位設(shè)置和標(biāo)記
預(yù)編程的立方晶體參數(shù)
先進(jìn)便捷的軟件
精度高,可達(dá)(1/100)°
結(jié)構(gòu)緊湊、用戶友好、性價比高
樣品處理方便,操作簡單
采用風(fēng)冷 X射線光管(無需水冷),能耗和運行成本低
控制切割、研磨和拋光
單晶的完整晶格取向
適用于不同尺寸和重量的各種獨特材料,例如:2-12“的晶圓和重達(dá)20kg的鑄錠
暫無數(shù)據(jù)!
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā),鋰電正極材料也正在快速迭代,其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,化學(xué)分析過程相對復(fù)雜、分析時間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
展期:2025年6月24日-26日展館:上海新國際博覽中心W5館地址:上海市浦東新區(qū)龍陽路2345號展位號:W5P10W5P10 馬爾文帕納科展位效果圖2025年6月24日至26日,馬爾文帕納科(Ma
XRD(X 射線衍射)高通量測試是一種能在短時間內(nèi)對大量樣品進(jìn)行快速分析的技術(shù),其發(fā)展與應(yīng)用主要源于傳統(tǒng) XRD 測試在面對復(fù)雜樣品體系和大規(guī)模分析需求時的局限性。馬爾文帕納科最新推出了Aeris高容
本文摘要新款激光粒度儀- Mastersizer 3000+的推出,為對粒度分析感興趣的科學(xué)家和研究人員的研究工作提供了許多新的可能。但當(dāng)您想將方法從MS 3000轉(zhuǎn)移到MS 3000+時,可能會產(chǎn)生
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