2012年10月17日-19日,由中國顆粒學會(CSP)、紐倫堡會展服務(上海)有限公司、上海環球展覽有限公司共同合作主辦的第十屆中國國際粉體加工/散裝輸送展覽會暨會議(IPB 2012)在上海國際展覽中心成功舉辦。IPB是中國顆粒學會唯一主辦的粉體/ 散裝行業展覽會,是引領新興的粉體行業發展的盛宴。
IPB展示內容含概材料改性工業的整個加工流程,關注各種行業中混合,輸送,粉碎,篩分和顆粒制備技術,不僅運用于化工、制藥、食品工業的處理,更廣泛應用于顏料染料,包裝,采石,建筑,陶瓷等領域。

美國貝克曼庫爾特有限公司現場展位
此次展會,貝克曼庫爾特攜公司諸多產品盛裝出席,主推產品包括Multisizer 3庫爾特粒度分析計數儀、DelsaNano 納米粒度/Zeta電位分布分析儀、LS 13 320激光粒度分析儀等,吸引了眾多客戶駐足觀看、交流。
DelsaNano 納米粒度/Zeta電位分布分析儀適用醫藥品,食品飲料,蛋白質,生物工程,配方 穩定性,墨水,油墨,半導體,固液界面電位等的測試。

DelsaNano 納米粒度/Zeta電位分布分析儀
技術特點:
- 可選傳統的前散射或最先進背散設粒度測量
- 可選檢測器前置光圈加強精度與分辨率
- 可選對數或線性相關儀針對多種不同分散度樣品
- 可選特強電場針對難度高樣品
- 可選測量溫度低至5度
- 30mW激光源為標準規格
- 備石英,塑料一次性,毛細管和高濃度樣品池
- 多點測量Zeta電位分布加強精度
- 分析過程實時報讀粒度和粒度變化趨勢
- 粒度與Zeta電位均以平均值和分布圖/列表表達
- 全自動SOP操作模式可供連續測量多個SOP
- Zeta電位測量同時測量液體導電率
- 提供專業分散劑輔助納米分散
貝克曼庫爾特公司對顆粒特性的研究始于上世紀的四十年代,一直專注于顆粒分析的研究開發與應用。其顆粒特性分析儀器已經成為當今全球最具競爭力和獨當一面的表征顆粒特性的產品!無論是對粒度的分析,還是顆粒的計數;無論是在微米-亞微米范圍的測量,還是在納米尺度內的測量;既擁有應用庫爾特原理的產品,同時也擁有應用激光衍射散射原理以及動態光散射原理的產品,使貝克曼庫爾特公司成為粒度分析同業的翹楚!
欲了解更多,點擊進入該公司展位>>
IPB展示內容含概材料改性工業的整個加工流程,關注各種行業中混合,輸送,粉碎,篩分和顆粒制備技術,不僅運用于化工、制藥、食品工業的處理,更廣泛應用于顏料染料,包裝,采石,建筑,陶瓷等領域。

美國貝克曼庫爾特有限公司現場展位
此次展會,貝克曼庫爾特攜公司諸多產品盛裝出席,主推產品包括Multisizer 3庫爾特粒度分析計數儀、DelsaNano 納米粒度/Zeta電位分布分析儀、LS 13 320激光粒度分析儀等,吸引了眾多客戶駐足觀看、交流。
DelsaNano 納米粒度/Zeta電位分布分析儀適用醫藥品,食品飲料,蛋白質,生物工程,配方 穩定性,墨水,油墨,半導體,固液界面電位等的測試。

DelsaNano 納米粒度/Zeta電位分布分析儀
技術特點:
- 可選傳統的前散射或最先進背散設粒度測量
- 可選檢測器前置光圈加強精度與分辨率
- 可選對數或線性相關儀針對多種不同分散度樣品
- 可選特強電場針對難度高樣品
- 可選測量溫度低至5度
- 30mW激光源為標準規格
- 備石英,塑料一次性,毛細管和高濃度樣品池
- 多點測量Zeta電位分布加強精度
- 分析過程實時報讀粒度和粒度變化趨勢
- 粒度與Zeta電位均以平均值和分布圖/列表表達
- 全自動SOP操作模式可供連續測量多個SOP
- Zeta電位測量同時測量液體導電率
- 提供專業分散劑輔助納米分散
貝克曼庫爾特公司對顆粒特性的研究始于上世紀的四十年代,一直專注于顆粒分析的研究開發與應用。其顆粒特性分析儀器已經成為當今全球最具競爭力和獨當一面的表征顆粒特性的產品!無論是對粒度的分析,還是顆粒的計數;無論是在微米-亞微米范圍的測量,還是在納米尺度內的測量;既擁有應用庫爾特原理的產品,同時也擁有應用激光衍射散射原理以及動態光散射原理的產品,使貝克曼庫爾特公司成為粒度分析同業的翹楚!
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