德國新帕泰克將參展IPB 2010 第八屆國際粉體工業/散裝技術展覽會暨會議
時間：2010年9月27-29日
地點：上海國際展覽中心
地址：上海市興義路77號
公司展位號1118，屆時將攜最新R系列干法激光粒度儀HELOS/RODOS（測試范圍0.1-3500μm）、動態粒度粒形分析儀QICPIC（測試范圍1-20000μm）、納米激光粒度儀NANOPHOX（測試范圍1-10000nm）、超聲衰減粒度儀OPUS（0.01-3000μm），并有中國工程師在現場為您做專業的介紹與解答。
德國新帕泰克專利的干法粒度儀HELOS/RODOS，以其“干樣干測”、“瞬時分散，瞬時測量”的優勢，廣泛以用于粉體行業的粒度分析與測量，具有分散效果好、測試速度快、準確性與精度高等優點。
動態粒度粒形儀QICPIC在分析粒度分布信息的基礎上，提供粒形信息，為以顆粒形態為表征的行業與分析研究院提供了包括球形度、長寬比、纖維長度等更多參數的信息。
納米粒度儀NANOPHOX使用PCCS的原理，消除多重散射的影響，測試濃度高，準確性好，同時提供穩定性分析，是分析納米粉體的最佳選擇。
誠摯歡迎各界人士的蒞臨展位交流！
欲了解更多，點擊進入該公司展位>>
時間：2010年9月27-29日
地點：上海國際展覽中心
地址：上海市興義路77號
公司展位號1118，屆時將攜最新R系列干法激光粒度儀HELOS/RODOS（測試范圍0.1-3500μm）、動態粒度粒形分析儀QICPIC（測試范圍1-20000μm）、納米激光粒度儀NANOPHOX（測試范圍1-10000nm）、超聲衰減粒度儀OPUS（0.01-3000μm），并有中國工程師在現場為您做專業的介紹與解答。
德國新帕泰克專利的干法粒度儀HELOS/RODOS，以其“干樣干測”、“瞬時分散，瞬時測量”的優勢，廣泛以用于粉體行業的粒度分析與測量，具有分散效果好、測試速度快、準確性與精度高等優點。
動態粒度粒形儀QICPIC在分析粒度分布信息的基礎上，提供粒形信息，為以顆粒形態為表征的行業與分析研究院提供了包括球形度、長寬比、纖維長度等更多參數的信息。
納米粒度儀NANOPHOX使用PCCS的原理，消除多重散射的影響，測試濃度高，準確性好，同時提供穩定性分析，是分析納米粉體的最佳選擇。
誠摯歡迎各界人士的蒞臨展位交流！
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