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AFM-in-Phenom XL品牌
飛納產地
荷蘭樣本
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0.2nm×0.2nm×0.04nm看了AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機的用戶又看了
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全新發布的 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優勢,實現了在同一系統中對樣品進行多模態(SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學)關聯分析。
· 設備掃描范圍(開環):100μm×100μm×20μm
· 設備掃描范圍(閉環):80μm×80μm×16μm
· 分辨率:0.2nm×0.2nm×0.04nm
· **樣品尺寸:21mm×11mm×8mm
· **樣品重量:100g
· 成像模式:表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves等
全新發布的 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優勢,實現了在同一系統中對樣品進行多模態(SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學)關聯分析。
2020-12-09
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2020-12-21
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2020-12-21
2020-12-21
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