TESCAN GAIA3電鏡系統**的集成了超高分辨率的電子光學系統和高性能的離子束系統，二者配置于同一樣品室上。GAIA3電鏡以MAIA3場發射掃描電鏡為平臺，在保留MAIA3優越性能的基礎上，增加了使用聚焦離子束進行樣品表面處理的功能。GAIA3具有創新性的場發射電鏡設計，低電壓下仍具有出色的分辨率，大大提高了其成像能力。與一般電鏡的電磁物鏡相比，GAIA3具有較窄小的電磁物鏡，同時InBeam-SE探頭和InBeam-BSE探頭的位置都位于透鏡內，這些設計都為FIB及其他分析設備提供了充足空間，使之能夠在樣品表面完成多項工作。

GAIA3的突出特點

·單極60°電磁物鏡設計，**的SEM分辨率

·一流的多種成像模式—大視場模式，分辨率模式以及景深模式—這些功能都基于TESCAN獨有的大視場光學系統設計

·馬達控制的精準樣品臺，可進行精確的移動或傾轉操作

·Field-free模式下可對磁性樣品進行有效觀察

·高達200nA的束流強度

·停留時間低至20ns的快速電子束刻蝕速度

·FIB的Cobra光學系統，確保聚焦離子束極高的分辨率和優異的性能，離子束流為1pA到50nA

·強大的DrawBeam軟件包，包含許多可編程設計模塊（基礎版和高級版）來實現掃描及制樣等過程中可調參數的多樣化

·不僅具有對樣品表面進行修飾和觀察的多種功能，**的空間設計還能夠使電鏡通過接口兼容多種探測設備與技術手段，且還能保持一致的**分析工作距離

GAIA3的功能特點

對納米尺度物質的成像分析及控制，是當今順利開展研究工作的關鍵，這要求前沿的技術手段具有分辨率、準確度、可重復性、穩定性以及靈活性等多方面的優異性能。

在前幾代電鏡系統的成功基礎上，TESCAN推出了GAIA3新一代電鏡系統。它保持了SEM****的納米級分辨率特征，同時還集成了優越的COBRA-FIB聚焦離子束功能，使新一代GAIA3電鏡擁有更加多元化的分析設備兼容性，提高了分析范圍和分析能力。

GAIA3的一個突出優點在于它低電壓下的掃描電子成像功能，分辨率很高。這對于研究電子敏感材料或是導電性差的樣品極為重要，低電壓可以降低電子與材料相互作用，從而保證好的分辨率同時還能獲得好的低電壓襯度。

COBRA-FIB聚焦離子束系統是一項頂尖技術，不論成像拍照還是樣品微觀加工，都能保持很高的尺寸分辨率，是納米工程領域**的FIB設備。

系統靈活性與工具多樣性

TESCAN致力于為科研人員提供操作便捷、結果可靠、系統穩定的解決方案與技術手段。TESCAN設備獨特的用戶分級設計能夠滿足所有操作者的需求，無論你是應用專家，還是偶爾操作人員（只需要通過簡單操作便可獲得出色的實驗結果）。應用專家模式是為長期使用TESCAN電鏡系統，能夠充分了解和發揮電鏡靈活性和擴展功能的熟練操作人員設計。TESCAN電鏡系統將眾多功能特點整合于全方位的交互界面，方便快速完成SEM和FIB各種工作模式與功能的觀察條件設置。

使用GAIA3電鏡可以輕松獲得**的圖像質量與襯度，尤其是其獨特的低電壓拍照功能。當然，二次電子（SE）與背散射電子（BSE）拍照模式在高電壓與低電壓條件下均可使用，獲得高質量樣品照片。

GAIA3還配備了先進的自由伸縮式STEM探頭，使用FIB制得TEM薄片樣品后可直接進行電鏡觀察。另外，在FIB與SEM雙束電鏡上安裝飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），一方面能夠提高質譜敏感性，另一方面使用FIB對樣品表面連續進行連續切割，可獲得樣品質量分布的三維分布圖。

GAIA軟件與自動化操作系統
       TESCAN的用戶友好型軟件、許多自動化程序、遠程控制系統及腳本庫都致力于幫助用戶獲得出色的結果，得到業界與用戶的一致認可。GAIA3更是為經驗豐富的用戶提供了專家級系統設置的訪問權，使用戶能夠根據自身需求進行觀察條件的**化設置。GAIA3擁有多用戶使用環境、模塊化軟件設計、網絡操作控制以及眾多的擴展功能，是一款靈活全面的電鏡設備。