2024年10月18-20日，一年一度的全國電子顯微學學術年會在東莞成功舉辦！來自世界各地的電鏡相關供應商、來自五湖四海的用戶、專家歡聚一堂，共同探討顯微學術最新技術發展與應用！

復納科技受邀參加此次會議，亮相 4-20 展位。飛納電鏡作為臺式電鏡的領軍品牌，自 2018 年臺式場發射發布以來，目前已經升級至第二代臺式場發射。全球已經有 800 名臺式場發射用戶，中國已有 300 名用戶。本次會議上，飛納電鏡為大家帶來了最新的技術突破：臺式場發射掃描-透射電子顯微鏡，將臺式場發射電鏡提升至 1nm 分辨率，為催化劑研究、細胞學、生物學研究提供了更加方便快捷的研究工具。此外，還為大家帶來集成于臺式掃描電鏡的 AFM（原子力顯微鏡）方案，實現在同一系統中對樣品進行多模態（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學）的關聯分析。

臺式掃描透射電鏡

飛納臺式掃描透射電鏡 Pharos STEM 可靈活放置，通過與傳統電鏡靈活搭配使用，可實現快速成像、篩選樣品，成為生物電鏡表征流程的加速器和催化劑。由于其操作簡便性，也可作為開放自由上機或培訓使用。

ChemiSEM 技術

EDS 能譜儀在電鏡工作時始終在后臺收集成分數據，利用算法同時處理 BSE 和 EDS 信號，從而可以實時顯示樣品的形態和定量元素分布結果。簡化對金屬、陶瓷、電池、涂層和軟材料等多種材料的復雜分析。

Phenom MAPS 系統

通過層級的方式，實現對樣品的拍攝與數據回看。Phenom MAPS 提供的是一個涵蓋所有樣品信息的數碼存檔，從宏觀到微觀無所不包，徹底變革了傳統掃描電鏡的分析與數據存儲模式。并且，多圖層數據可以包含能譜。

AFM-in-Phenom XL

全新發布的 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優勢，實現了在同一系統中對樣品進行多模態（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學）關聯分析。

一直被模仿，從未被超越！除了硬件的升級，飛納電鏡引領掃描電鏡進入 AI 人工智能時代。Diatom AI 硅藻全自動 AI 識別系統，在公檢法，環境監測，地質勘探等領域，解放了操作人員的雙手，大幅減少了操作人員尋找目標物的時間。全自動顆粒物及清潔度分析系統 ParticleX，可對雜質顆粒、金屬夾雜物進行自動識別，自動歸類，并導出符合 ISO 等標準要求的報告，已經成為鋰電行業質量控制標準。

精彩回顧

會議期間，飛納電鏡在展會現場 4-20 展位為大家帶來來《引領科學儀器進入AI智能時代：飛納臺式掃描電鏡的技術突破及全新A 智能離子研磨》的微講座報告。并真機展示了 ChemiSEM 彩色成像軟件，ChemiPhase 物相分析軟件、Phenom MAPS 大面積能譜拼圖軟件等最新技術，不僅打破大家對于掃描電鏡圖片是黑白的傳統認知，而且將掃描電鏡成像分析帶入一個全新的高度。

此外，可以對話的離子研磨儀 SEMPREP SMART，不僅是技術的集大成者，更是智能化操作的前沿標桿。離子研磨系統是一種高精度的表面處理技術，主要用于材料科學和半導體行業。目前絕大多數離子研磨系統都是采用傳統的觸控屏或機械鍵盤的方式進行操作。而最新的 Technoorg Linda 產品 SEMPREP SMART 創新地采用了智能 AI 的操作模式，是一臺你可以對話的離子研磨系統！

復納科技已經全面承接 DENSsolutions 在中國市場的售前售后支持服務，此次會議期間，DENS 亮相復納科技展臺，并在 4-20 展位為大家帶來了線上線下同步直播的微講座：《DENS 新品發布! 新一代通用型原位環境樣品桿--領先的 8 電極原位環境解決方案》。

8 電極原位環境桿可以在氣相和液相環境中實現同時加熱、加電的功能，可以解決當前很多實際的應用難題。該樣品桿還有很多領先的設計，樣品桿前端 tip 可以傾轉 180°，在不破壞實驗環境的前提下，實現優異的 TEM 和 STEM 功能。樣品桿前端 tip 既可以用在 JEOL 樣品桿上，也可以用在 TFS 樣品桿上，充分發揮 TFS TEM 和 JEOL TEM 的功能優勢。

2017 年開始，復納科技陸續與 7 家行業領先品牌建立了長期獨家合作，致力于為中國高校、研究所、企業和政府用戶提供先進可靠、高效智能的科學分析儀器、優質專業的服務和基于核心技術的解決方案。十年以來，復納科技賦能中國科研創新、工業升級，人工智能檢測的使命也越來越清晰。

Phenom 飛納臺式掃描電鏡

Technoorg Linda 離子研磨儀

DENSsolutions 原位樣品桿

Technoorg Linda 離子精修儀

NeoScan X 射線臺式顯微 CT

ForgeNano 原子層沉積系統

VSParticle 氣溶膠納米沉積