一、產品介紹

OP-90ZMS納米粒度儀基于光子相關光譜技術，以本公司****技術研制的大動態范圍高速光子相關器為核心器件，采用本公司在顆粒粒度反演算法上的**研究成果，因此具有準確度高、重復性高的特點，是測量亞微米及納米顆粒粒度的**選擇。適用于測量各種亞微米及納米顆粒的稀釋溶液。

二、測試原理

當激光束照射樣品時，由于散射區域所有粒子的光散射作用，散射場會出現散射光斑。某些位置，由于場強的疊加得到較大的光強，某些位置，由于場強的相互抵消，獲得的光強較弱。然而，由于粒子的布朗運動，光斑不是靜止不動的，而是隨時間波動。在固定的散射角度由光電倍增管測得散射光，并送入光子相關器進行自相關運算得到光強自相關函數，對相關函數進行反演就可以獲得顆粒粒徑和粒度分布信息。

根據溶液對入射光的散射能力以及散射光強的濃度依賴性和角度依賴性的測點，可以計算聚合物的分子量，以及溶液的第二維利系數等熱力學參數。

Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力強度的度量，是樣品分散穩定性的一個指標。Zeta電位越高，體系越穩定，即溶液可以抵抗聚集。反之，Zeta電位越低，越傾向于凝結或凝聚，即吸引力超過了排斥力，分散被破壞而發生凝結或凝聚。電泳光散射法是測量Zeta電位的主要方法，它是通過散射光的多普勒頻移來測量電泳遷移率，從而計算出Zeta電位。

三、性能特點

1、大動態范圍高速光子相關器：采用**技術設計的光子相關器，以高、低速通道搭配的結構，有效解決了硬件資源與通道數量之間的矛盾，實現了1010的動態范圍，并保證了相關函數基線的穩定性。

2、**反演算法：采用**擬合累積反演法和基于V-曲線判斷準則的正則化算法反演顆粒粒徑及其粒度分布，使測量結果的準確度和重復性均小于1%。

3、超強的抗噪能力：采用小波消噪技術，解決了散射光強較低時，噪聲過大對測量結果的影響。

4、穩定的光路系統：采用532nm固態激光光源和單模保偏光纖技術搭建而成的光路系統，保證了光子相關光譜測量系統的穩定性和準確度。

5、高精度溫控系統：基于半導體制冷裝置，采用自適應PID控制算法，使溫度控制精度達±0.1℃。

6、高靈敏度光子探測器：采用專業級高性能光電倍增管，對光子信號具有極高的靈敏度和信噪比。光子計數器采用邊沿觸發模式，瞬間捕捉光子脈沖的變化。

四、軟件功能

1、一鍵啟動式測量，自動生成測試報表

2、自動調整散射光強，無需用戶干涉

3、自動優化光子相關器參數，以適應不同樣品

五、測試報告

Thermo Fisher公司200nm標準樣品(3200A)的測試結果如下

六、技術指標