在材料科學領域，微觀結構的精準觀測與加工是科研突破的關鍵。近期，泛銳云智科技（鄭州）有限公司（以下簡稱“E測試”）實驗室引入國儀量子超高分辨場發射掃描電鏡SEM5000X與聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500，成為其微納分析技術升級的新利器。

科研服務的“中國速度”

E測試于2013年誕生于古都西安，總部位于鄭州，秉承“客戶至上，求實誠信，合作共贏，自驅高效，擁抱變化”的經營理念，堅持“讓科研更簡單、更高效”的使命，為材料測試領域提供優質的“互聯網+”式綜合科研技術服務。“E測試專注材料、化學、生物、環境領域檢測服務11年，累計服務超5000家高校院所，年檢樣品量突破128萬件！”實驗室主任馬博士表示，平臺以“極速交付”著稱，平均4.3天即可完成檢測報告，用精準與時效助力每一份科研成果誕生。

“過去高端儀器依賴進口，采購周期長、維護成本高。如今國產設備已實現性能比肩國際品牌。”馬博士以SEM5000X為例介紹道，“它擁有超高分辨率，更大的快速換樣艙，解決了我們客戶大尺寸樣品的需求。同時，國儀的本土化服務保障及時，讓我們客戶很放心。”

技術實戰：破解導電性差、大景深樣品成像難題

水凝膠通常由絕緣的高分子聚合物（如聚丙烯酰胺、聚乙烯醇）構成，這些材料本身不導電。對于該類導電性差樣品，作為E測試實驗室核心測試人員，牛老師介紹道：“首先干燥樣品，使用導電漿體固定，并進行噴金處理，以提高材料導電性，減少電荷積累。國儀量子SEM5000X具有較好的低電壓成像效果，選擇較小光闌，降低電子束流，縮短工作距離，提高信號收集效率，改善圖像質量。選擇ETD探測器，通過上述方法可得到較好的圖像效果。”

通過“制樣-參數-設備”全鏈路創新，結合國儀量子SEM5000X的低電壓成像優勢，E測試成功攻克了導電性差導致的檢測瓶頸，為實驗室提升了可靠的微納尺度分析的硬實力。

對于大景深樣品如何實現全視野清晰成像這一難題，牛老師同樣擁有一套獨家秘笈：“通過傾斜樣品角度，優化加速電壓，增大工作距離，調整光闌尺寸，可以有效提升圖像清晰度。”

FIB-SEM雙劍合璧：從微納加工到全維度分析

FIB技術主要用于對樣品表面進行納米級精度的切割、刻蝕和沉積，滿足用戶在微納尺度加工上的需求。同時，它也可以為用戶提供成分分析（通過EDS獲取元素組成）和形貌與結構分析（通過SEM成像展示表面形貌與微觀結構），為深入理解樣品的物理與化學性質提供關鍵支持。

北京省區經理吳老師結合公司業務介紹道：“E測試目前針對不同成分類，例如超軟材料、普通硬度材料、超硬材料；不同結構類，例如單相結構類、多相結構類、層狀結構類、多孔結構類、鑲嵌樣等各類材料，都有豐富的制樣經驗。”

從“依賴進口”向“自主創新”的跨越

談及為何會選擇國儀量子的DB500，北京省區經理吳老師提到：“我們此次購買的國儀量子DB500，使用體驗非常出色，完全超出了我們的預期。它不僅滿足了我們日常客戶需求，同時解決了高端雙束設備‘卡脖子’難題。我認為DB500是國產高端科學儀器實現進口替代的標桿之作。”

從進口依賴到國產崛起，E測試實驗室與國儀量子的合作，展現了國產高端儀器在科研服務領域的硬實力。隨著SEM5000X與DB500為代表的國產高端科學儀器研發應用成功，更多“卡脖子”技術難題或將迎刃而解，中國智造的“微觀視野”正愈發清晰。

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