? 分散在液體（特別是水）中的顆粒對液體中離子有選擇性吸附作用，加上固液兩相對電子的親和性不同，往往致使顆粒表面帶電。帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號的離子（即反離子），其中一部分反離子與顆粒表面緊密結合，構成固定吸附層，或稱 Stern 層，另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴散兩種相

?沉降法是通過測量顆粒在液體中的沉降速度來反映粉體粒度分布的一種方法。在液體中大顆粒沉降速度快，小顆粒沉降速度慢。沉降速度與粒徑的數量關系我們可以從下面的 Stokes 定律的數學表達式得到：從上式可以看到，顆粒的沉降速度與粒徑的平方成正比，可見在重力沉降中顆粒越大沉降速度越快。比如在相同條件下，兩個

?在傳統(tǒng)的動態(tài)光散射法粒度測試中，為了避免復散射 (Multiple scattering) 現象，需要盡量降低樣品的濃度，有時甚至看上去都是澄清透明的。而實際上大多數膠體產品原樣的濃度都在5%以上，外觀是渾濁的。對這樣的樣品，用傳統(tǒng)光子相關光譜法分析前要做高倍率的稀釋，這既不便于使用，又可能會破壞膠

?動態(tài)光散射（Dynamic Light ScatteringDLS)， 也稱光子相關光譜（PhotonCorrelation Spectroscopy PCS) 法，是一種常規(guī)的納米粒度表征方法，具有準確、快速、可重復性好等優(yōu)點。隨著儀器的更新和數據處理技術的發(fā)展，現在的動態(tài)光散射儀器不僅具備測量粒

?振實密度是將裝有粉末或顆粒的刻度量筒固定在機械振動裝置上，振動電機帶動機械振動裝置垂直上下振動，裝有粉或顆粒的刻度量筒隨機械振動裝置而發(fā)生有節(jié)拍的振動，隨著振動次數的增加，刻度量筒里的粉末或顆粒逐漸振實，振動次數達到設定的次數后，機械振動裝置停止振動，讀出刻度量筒的體積，根據密度的定義：質量除以體積

?由激光器發(fā)出的一束激光，經濾波、擴束、準值后變成一束平行光，在該平行光束沒有照射到顆粒的情況下，光束穿過富氏透鏡后在焦平面上匯聚形成一個很小很亮的光點——焦點，如下圖所示：當樣品通過分散系統(tǒng)均勻送到平行光束中時，顆粒將使激光將發(fā)生散射現象，一部分光向與光軸成一定的角度向外散射，如下圖所示。理論與實踐

? 釹鐵硼顆粒帶有較強的磁性，極易團聚，因此不能用濕法測試。而干法是通過高速氣流瞬間分散，可以克服磁性引起的團聚，因此干法激光粒度儀成為測量釹鐵硼的粒度分布的典型方法。但是由于釹鐵硼粉在空氣中具有自燃性，就是暴露在空氣中的釹鐵硼粉在環(huán)境溫度稍高時就會自燃，因此常常會燒毀吸塵器管路和濾網，使粒度測試

?在粒度測試過程中，有時會出現數據異常的情況，如重復性不好、同一個樣品結果與之前有差異等。這樣的情況一般是由以下幾個原因造成的。1、環(huán)境異常：粒度儀的使用環(huán)境應該滿足以下條件，一是室溫在10℃~30℃之間，并且介質溫度要與室溫相同或相近，若介質與室溫溫相差過大會導致樣品池結霧而影響測試結果。二是實驗臺

?影響激光粒度儀分辨力的因素很多：（1）光電探測器數量，數量越多分辨力越高。（2）反演算法的優(yōu)劣，好的反演算法分辨力高。（3）分布模型，多峰模型分辨力高，單峰模型分辨力低。（4）富氏鏡頭，相差小的富氏鏡頭分辨力高，相差大的富氏鏡頭分辨力低。

? 分辨力的定義是能被激光粒度儀有效辨別的兩個樣品的最小差值。分辨力是和重復性、準確性同等重要的指標，是衡量一臺激光粒度儀性能高低的主要指標。由于目前沒有評價激光粒度儀分辨力的標準樣品，因此要定量評價激光粒度儀分辨力有困難。但用戶可以通過簡單的方法定性評價你所用的激光粒度儀的分辨力。用兩種標稱值差

?在測試過程中通常用遮光率這個相對值來表征懸浮液的濃度的， 遮光率的大小是由懸浮液中的顆粒個數決定的——懸浮液中顆粒數越多，散射光越強，遮光率越高；懸浮液中的顆粒數越少，散射光越弱，遮光率越低。為了達到一定的遮光率，對粒度越粗的樣品所需的顆粒數量就多；對粒度越細的樣品，只要很少一點樣品顆粒數就很多，因

? 超細化、納米化是現代粉體材料研究和生產的趨勢，為滿足對這些材料的精確粒度分析，激光粒度儀的測量范圍也向超細化、納米化方向發(fā)展，所以現代高性能的激光粒度儀的測量下限已經達到 20nm 甚至 10nm，而樣品折射率（包括吸收率）是 Mie 散射精確求解的一個重要條件，如果折射率錯誤，將導致粒度測試

? 光在真空中的速度與光在其它材料中的速度的比值叫做折射率。樣品的折射率越高，表明入射光發(fā)生折射的能力就越強。吸收率是指光照射到顆粒上熱輻射能被吸收的量與投射到顆粒上的總熱輻射能量之比。在激光粒度分析軟件系統(tǒng)中，折射率是用復數表達表示，它的實部是實際折射率，虛部就是吸收率。現代激光粒度儀的軟件系統(tǒng)

? 一般由兩種方法，一是采取多次取樣法，即用小勺少量多次加樣，每加一次樣觀察一下遮光率的變化，當達到預設值時就停止加樣進入分散和測試階段。二是采用定量取樣法，即對同一規(guī)格的粉體樣品，先實驗確定在最佳遮光率時所需要的樣品量，以后每次測試時都用天平稱量相同量的樣品并全部加入到儀器中測試，就可以一次達到

? 遮光率是指被顆粒散射和吸收掉的光占光總量的百分比，是激光粒度測試中用來表示懸浮液光學濃度的一個量。遮光率的計算方法是原始光強 I0 與加入樣品后探測器中心點的光強 Ii 的差除以 I0 再乘以 100% 得到，即遮光率 =（I0-Ii）/I0×100%。一般遮光率的范圍在 10±5 之間。在實

? 粒度分布測量中所顯示的“濃度”一般是所接收的光信號的大小，是與顆粒數目有關的量，一般稱光學濃度而不是百分比濃度。對激光法來說，懸浮液中顆粒數越多，光學濃度越大（但如果顆粒太多，光被超量遮擋，光學濃度反而減小）；對沉降法來說，懸浮液中顆粒數 越多，光學濃度越小。

? 激光粒度儀測量粒度的原理是米氏散射理論。米氏散射理論用數學語言精確描述折射率為 n、吸收率為 m、粒徑為 d 的球形顆粒，在波長為 λ 的激光照射下，散射光強度隨散射角 θ 變化的空間分布函數，此函數也稱為散射譜。根據米氏散射理論，大顆粒的前向散射光很強而后向散射很弱；小顆粒的前向散射光弱而后

? SOP 是英文 Standard Operation Program的縮寫，即“標準化操作程序”。現在，智能激光粒度儀中都配有 SOP 功能來實現粒度測試過程自動化、標準化，實現“一鍵操作”。SOP 不僅能降低了操作人員勞動強度，更重要的是規(guī)范了測試條件，減少了人為因素導致的結果偏差，提高了測

? 由于小角度探測器距離探測器中心僅有100微米左右，這樣因機械振動、熱脹冷縮、桌面不平等因素導致的光路系統(tǒng)偏移或扭曲，很容易使主光束偏離探測器中心點而照射到小角度探測器上，致使這些探測器因飽和而失效，無法探測到大顆粒產生的散射光信號從而導致錯誤的結果。自動對中系統(tǒng)在激光粒度儀中的作用是隨時保證探

?一般的，粒度分布測量是通過系統(tǒng)識別和接收光信號來實現的。 而光信號的強弱又是由懸浮液中的顆粒個數決定的。以激光法為例，懸浮液中顆粒濃度越高，散射光信號越強，但隨之而來的復散射的現象同時加劇，影響測量結果；反之懸浮液中的顆粒濃度越低，雖然復散射現象得到緩解，但信噪比下降，代表性也不夠，同樣影響測量結果

?使用激光粒度儀進行粒度測試，是目前應用最廣泛的一種粒度測試方法。早期的激光粒度儀用弗朗和費理論，這種理論不需要樣品折射率，但對小于5微米的樣品誤差較大。為了使激光粒度儀測量細樣品的精度更高,當今大部分粒度儀都采用Mie散射理論，這是一種精確描述顆粒對激光散射規(guī)律的理論，但Mie散射理論進行計算時需要

? 氦氖激光器是發(fā)明時間最早、技術最成熟、應用最為廣泛的激光器之一。由于氣體原子具有確定的能級結構，在外界電子激發(fā)下將發(fā)生能級躍遷，產生受激輻射發(fā)出激光，因此氦氖激光器產生的激光是波長純凈的單色光，波長誤差只有幾納米，并具有極大的相干長度，并且不受溫度波動影響，加上諧振腔的作用，保障了激光輸出具

? 半導體激光器又稱激光二極管（LaserDiode，LD），是二十世紀八十年代半導體物理發(fā)展的最新成果之一。半導體激光器的優(yōu)點是體積小、重量輕、可靠性好、使用壽命長、功耗低。此外，半導體激光器采用低電壓恒流供電方式，電源故障率低、使用安全，維修成本低。目前，半導體激光器的使用數量居所有激光器之首

? 米氏散射理論是通過麥克斯韋電磁理論嚴格推導出的、用來描述表面光滑的球體對光的散射規(guī)律的解析解。它考慮了散射體（顆粒）的光學特性（折射率和吸收系數）以及介質的光學特性。由于米氏理論考慮了樣品的折射率、吸收率、反射率，考慮了介質的折射率等因素，因此它對具有不同光學特性的樣品都能精確得到解析解，由此

?從使用角度來講，可以通過觀察背景狀態(tài)來快速判斷激光粒度儀是否正常。如果背景值大于4或直方圖形狀凸凹不平說明對中不良，背景值小于 0.3 說明激光器亮度下降；背景直方圖長度超過 20 個通道，說明樣品池臟換或結霧，需要清洗或處理；在背景坐標的右邊有背景信號，需要檢查樣品池和介質是否干凈。不同品牌的激光

?激光粒度儀良好的背景狀態(tài)必須同時具備以下五點：數值較低（1-3）、長度短（占20 個通道以內）、形狀斜（從左逐漸遞減）、位置左（位于坐標最左側）和穩(wěn)定。影響激光粒度儀的背景狀態(tài)的因素有以下原因：一是對中不良，二是樣品池粘附顆?；蚪Y霧，三是介質不干凈，四是激光器老化。此外像樣品池中沒有介質、環(huán)境空氣中

? 背景是激光透過樣品池及純凈介質后在探測器上形成的固定的光信號。產生背景的主要原因是激光由空氣進入樣品池玻璃（前）、介質、樣品池玻璃（后）再返回空氣的過程中，發(fā)生的折射、反射現象，再加上樣品池玻璃、介質和透鏡上可能的微小污染的綜合作用引起的。測量背景的目的就是要在粒度測試時扣除這些固定的、與樣品

? 長徑比：顆粒投影中長軸與其平均短軸之比。

?圓形度是顆粒投影與圓的接近程度。圓形度的計算公式是投影面積乘上 4π 除以周長的平方。即 e=（4π* 面積）/（周長 *周長）（e為圓形度）。e=1時，顆粒為圓形，e 越小，顆粒與圓形的差距越大。例如：圓的圓形度為 1.0，正方形的圓形度為π/4，約為 0.79，正三角形的圓形度為（π* √ 3）

? 不確定度定義為：表征合理地賦予被測量之值的分散度，與測量結果相聯系的參數。從定義可以看出，不確定度是對測量結果而言的，是用來表征結果的分散程度的，因此它可以用定量的數字來描述，即它是一個定量概念。對于標準物質來說，其不確定度結果由三部分組成：標準物質的不均勻性引起的不確定度、標準物質的不穩(wěn)定性引