X-射線熒光光譜儀是一種不破壞樣品的無損元素分析方法，同時它又具有了濃度范圍寬和分析速度快的優點。但XRF使用者在日常工作中經常會為標準樣品的制作或尋找而煩惱。近年來隨著XRF理論和計算機技術的發展，無標定量方法越來越到得到應用。

因此，為了馬爾文帕納科XRF用戶更加熟練掌握無標定量軟件Omnian或IQ+的使用以及對XRF軟件發展有更多了解，特定于6月9 日舉辦“X射線熒光光譜軟件應用方法講解”的網絡講座。馬爾文帕納科XRF產品經理熊佳星先生和產品顧問薛石雷先生將分享多年的寶貴經驗和應用心得。機會難得，趕快報名吧！

6月9日14:00-15:30    X射線熒光光譜軟件應用方法講解

                                      -無標定量軟件Omnian使用講解

                                      -應用數據庫軟件進行準確定量分析

講師介紹

熊佳星  XRF產品經理

2010年畢業于中國科學技術大學，化學物理專業碩士；2012年加入荷蘭帕納科公司，負責其在中國XRF產品的應用及產品工作。

薛石雷 中國區產品顧問

原任帕納科亞太區應用實驗室經理，交叉業務發展經理。曾在北京化工大學任教和PE公司工作。

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