晶圓厚度測量系統

推薦第三代半導體人注意！3 大「精度革命」神器即將空降蘇州，解鎖 SiC 生產降本增效密碼！

在第三代半導體碳化硅（SiC）賽道上，0.1μm 的精度誤差可能導致良品率暴跌 15%，單晶圓成本激增數千元！從晶體生長到晶圓加工，每一道工序都在考驗設備的精度極限。2025年8月20-21日在江蘇·蘇州由中國粉體網主辦的第[更多]