X射線地質勘探光譜儀

推薦智能分析，高效決策——觀世科技Vanta系列，多領域品質檢測利器

隨著現代分析技術向高精度、快速化和智能多元素分析主流趨勢的發展，X射線熒光光譜法(XＲF)應運而生并廣泛用于實驗室分析，尤其是手持式XRF分析儀因其獨特的原位、無損、經濟、便捷等優勢，使之在地質找礦勘查、水土質量評價、空氣環[更多]