探測器:
BSE、SE加速電壓:
-電子槍:
-電子光學放大:
-光學放大:
-分辨率:
優于6nm看了ZEM20臺式掃描電鏡的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
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澤攸科技推出的ZEM系列臺式掃描電鏡,融合了眾多創新技術,不僅成像效果**,而且便于攜帶,能夠滿足多樣化的應用需求。在國內外,ZEM系列以其高端定位和多樣化型號,已在成像清晰度、用戶友好性以及系統整合性等方面達到了先進標準。
該系列產品以其高度的集成性和多樣化的配置選項而著稱,用戶界面簡潔,易于學習和操作,即使是非專業用戶也能迅速掌握。配備的軟件支持整個工作流程,從樣品準備、參數調整到圖像分析,提供了一體化的高效解決方案。ZEM系列在新材料、新能源、生物醫藥和半導體等多個領域均顯示出了其強大的分析能力,助力科研工作者深入探索微觀世界的神秘。因其**的性價比,ZEM系列已成為眾多高校、研究機構和企業重點選擇的臺式掃描電鏡。
產品參數:
產品特色:
▲ 真空分隔技術 :采用獨特真空設計,電子槍和樣品倉真空分離,換樣時間小于1min。
▲ 超大樣品倉:提供了更大的樣品存儲空間,方便用戶操作。
▲ 超高分辨率:極限放大倍數達到36萬倍,分辨率4nm@20kV。
▲ 選配減速模式:允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察。
▲ 倉內攝像頭:樣品倉內置高清攝像頭,原位實驗時可實時監測樣品原位變化。
可拓展原位電鏡附件列表:
SEM芯片加熱臺,SEM加熱爐,SEM電池臺,SEM液體電化學臺,SEM氣體臺,SEM拉伸臺,SEM-TEC冷臺,SEM液氮冷臺,SEM電學探針臺,SEM通光等掃描電鏡原位測試系統 。
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