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型號(hào)：美國(guó)FEI Quattro S
功能：用于材料表面、斷面形貌觀察，微區(qū)成分定性定量分析。
技術(shù)參數(shù)：
﹡分辨率：1.0nm（30KV, SE）
﹡附件：X射線能譜儀（EDS）、電子背散射衍射儀（EBSD）
﹡放大倍數(shù)：300萬(wàn)倍
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