XRSIM是由美國Iowa州立大學無損檢測中心研制的X射線無損檢測模擬軟件。軟件研制過程歷經23年，其用戶包括美國Los Alamos國家實驗室、Sandia國家實驗室、NASA、美國國家科學基金會、美國諾爾原子能實驗室，美國陸軍、空軍及其它國防工業部門；跨國大公司有如美國鋁業，達信航空航天，勞斯萊斯，普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等，以及荷蘭、韓國、印度、比利時等國家的實驗室、科研院所、無損檢測教學單位及相關企業。

快速的射線檢測模擬。軟件在個人電腦上就可以以較快的速度運行，也不需要優越的工作環境。如圖所示，XRSIM的主要組成部分包括：綠色的CAD圖，根據CAD信息得到的彩色的厚度圖，射線檢測模擬的灰度圖以及參數設置主菜單和子菜單。

應用領域：

?射線源（靶、窗口、能量范圍，……）

? X射線與物質的相互作用（衰減定律，康普頓散射，電子對效應）

?工件和缺陷（Stl文件）

?探測器（吸收劑量，膠片/ 非晶硅，圖像增強器，……）

?建模是基于基本的物理規律

?速度快

?開放式的用戶接口

?可模擬*多由20個零件組裝的產品，每個零件*多可植入4個缺陷

?對計算機硬件要求低

?節約膠片或探測器

?節約時間（人工+機時）

?透照方向分析

?檢測分辨力分析

?優化檢測工藝或參數

?加快預研項目進程（prototype）

?檢測覆蓋率分析

?教育培訓

更多細節歡迎來電垂詢

Tel：010-68902940

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