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美國Microvision System成立于1993年,是全球顯示器測試系統的主要供應商,可以檢測FPD CRT,PLASMA, HDTV, OLED, HUD, HDD投影機等,應用于R&D, QC及工業測試。Microvision System以技術先進的產品及完善的售后服務,贏得用戶的尊敬。
系統功能說明:
Microvision顯示器測量系統可選擇兩種取樣探頭SS410及SS420,使用一組抵用平臺和控制電腦,經由專業控制軟件,進行顯示器光學特性的自動測量和分析。
LCD顯示器測試 OLED顯示器測試 亮度測試 色彩均勻度測試 伽馬測試 視場角測試 消光系數 灰度轉換時間
SS445大屏幕顯示屏測量系統
系統簡介:
SS445是一款顯示屏測試系統專門設計于測量大屏幕顯示屏。這個包括了投影顯示屏高達電影院屏幕的尺寸,來自于任何一個現有的投影引擎技術。
系統采用了電動Pan & Tilt機械實現移動到所要的測試位置。系統配置了1.4MP CCD相機和/或者一個衍射光柵光譜儀。
在操作中,系統是固定在顯示屏的前方進行測試的。模式發生器或者Microvision的MVRemote是用于自動顯示測試模式或者有需要的話可通過客戶的系統生成圖像。
SS445專門設計于從觀察器的角度來測量顯示屏,由于是真實可見的因此能更好地測量出顯示屏的性能。完全定義顯示屏可快速地測量出多個觀察器的位置。操作員進入到所要的測試位置(X和Y或者像素坐標),測試可實現全自動化,并且系統會自動找到以及在這些位置運行所要進行的測試。
測試性能:
SS445的測試性能包括了大型顯示屏的所有類型測試。 這些系統的性能都由安裝了什么傳感器來決定的(相機和/或者光譜儀)??偟目蓽y試參數如下:
CCD相機:
- MTF
- 線寬
- 幾何圖
- 收斂測量
- 亮度均勻度
- Jitter, Swim, Drift
- 伽馬/灰階
光譜儀
- 亮度
- 色度和色溫
- 亮度和色彩均勻度
- 頻譜圖
- 伽馬
- 對比度
- 色差
SS445 規格參數:
Pan&Tilt組件
- 分辨率:0.0032°
- 承載性能:9 lbs
CCD相機
- 圖像傳感器:1392x1040 pixels
- 數字視頻:12-Bit
- 元素尺寸:6.45 μm square pixels
- 同步:Synchronous Capture
- 視場:20mm @ 1m, adjustable
- 工作區域范圍:0.5 to 3.5 meters
- 數字變焦:Up to 32X
- 亮度精度:+/- 4% @ 2856k
- 亮度范圍:0.05 to 106 cd/m2 with ND Filters
- 測量時間:<1 sec for most measurements
光譜儀
- 波長范圍:380 to 780nm (1000nm opt)
- 亮度范圍:0.01 to 500K cd/m2
- 亮度精度:+/-3% @ 2856 illuminant A
- 亮度重復率:RSD over 30 minutes < 0.5%,0.01 cd/m2 sensitivity is specified at 3% RSD
- 色彩精度:+/- 0.002 @ 2856K
- 色彩重復率:+/- 0.0005 @ 2856K
- 集成時間:16.7 – 5000 msec (sync@60hz)
- 溫度控制:Computer Controlled
- 光學:12mm Collimated
- 接受角度:1.5°
- 光學分辨率:3.8nmFWHM @ 100μm slit
- 校準:NIST Traceable
- 操作溫度:5° to 30°C
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產品質量
售后服務
易用性
性價比