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| EMP 2000A便攜式紅外發射率/反射率測定儀，可在3-35微米范圍內測試半球反射率測試（總半球反射率），提供法線方向和半球方向300K環境條件下的發射率測定。 可取代已經停產的業界標準GIER鄧克爾DB 100 E408標準。 TEMP2000A中采用的光學元件、鍍膜材料決定了其還可以在更寬的波長范圍進行測試。TESA2000是在溫度2000A基礎上增加光譜半球反射率測定功能，光譜范圍250～2500納米，主要用于太空材料太陽吸收特性測試。 波長<3微米> 35um（并不限定于過濾器，窗等）測量精度（鏡面反射和漫樣品）-灰色樣本滿量程的±1％- ±3％滿量程非灰樣品重復性- 滿量程的±0.5％或更好樣品類型任何樣品，包括金屬箔，絕緣體等樣品尺寸和幾何形狀- 平面：≥0.4英寸（1厘米）直徑- 凹面： ≥ 6.5英寸（16.5厘米）直徑-凸面：≥ 1英寸（2.5厘米）直徑 樣品溫度房間溫度，環境顯示的屬性- 紅外反射- 正常發射率（300K）-半球發射率（300K）讀數數字液晶面板米可選紅外發射率或反射率顯示測量范圍（反射率）0.00～1.00尺寸光學頭：直徑5.25“X 6.8”長控制和顯示單位：4.5×7.75×7英寸便攜包：12.5×17×11英寸重量光學頭：5磅，控制和顯示單元：4磅，攜帶箱：11磅保1年部件和人工 |
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