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紅外雙折射分布測量設備
WPA-NIR
主要特點
l紅外波長的雙折射/相位差面分布測量
l硫系、紅外透明樹脂等的光學畸變評估
l小型、簡単操作、高速測量
WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布
安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View
可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區域內的平均值等的定量數據
可搭配流水線對應的『外部控制選配』，也可應用于量產現場
WPA-NIR的功能
1.高速測量面的雙折射/相位差分布
NIR波長僅需操作鼠標數秒內就能獲取高密度的雙折射/相位差信息
2.測量數據的保存/讀取
全部的測量結果都可以做保存/讀取。易于跟過去的測量結果做比較等
3.豐富的圖形創建功能
從測量后的面信息，可以自由制作線圖形和直方圖。復數的測量結果可以在一個圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出
主要技術參數
型號 | WPA-NIR |
測量范圍 | 0~425nm(光源波長為850nm) 0~470nm(光源波長為940nm) |
重復性 | <1.0nm |
像素數 | 384*288 pixels |
測量波長 | 850nm or 940nm |
尺寸 | 200x220x313mm |
自身重量 | 5kg |
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