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看了PHL應力雙折射測量儀PA-300的用戶又看了
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PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其**技術的光子晶體偏光陣列片,獨有的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。
操作簡單,測量速度可以快到3秒。
視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。
更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。
高達2056x2464像素的偏振相機。
光學鏡片
智能手機玻璃基板
碳化硅,藍寶石等
技術參數:
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產品質量
售后服務
易用性
性價比
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光化學反應儀BL-GHX-VK型
浪聲SuperSEM桌面式多功能實時能譜掃描電鏡
傅里葉變換紅外光譜儀Lyza3000
LB膜分析儀
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