掃描電子顯微鏡

Apreo 材料科學應用

功能*為豐富的高性能 SEM

Apreo 性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生****的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。

Apreo 受益于獨特的透鏡內背散射探測，這種探測提供**的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復合透鏡通過能量過濾進一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾。可選低真空模式現在的**樣品倉壓力為 500 Pa，可以對要求*嚴苛的絕緣體進行成像。

通過這些優勢（包括復合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應對未來的研究難題。

體驗 Apreo SEM 帶來的優勢

·獨有的復合末級透鏡可在任何樣品（即使在傾斜時或進行地形測量時）上提供優異的分辨率（1 kV 電壓下為 1.0 nm），而無需進行電子束減速。

·作用極大的背散射探測 - 始終保證良好的材料對比度，即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進行 TV 速率成像時也不例外。

·無比靈活的探測器 - 可將各個探測器部分提供的信息相結合，獲得至關重要的對比度或信號強度。

·各種各樣的電荷緩解策略，包括樣品倉壓力**為 500 Pa 的低真空模式，可實現任何樣品的成像。

·**的分析平臺提供高電子束電流，而且光斑很小。樣品倉支持三個 EDS 探測器、共面的 EDS 和EBSD 以及針對分析進行了優化的低真空系統。

·樣品處理和導航極其簡單，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。

·通過高級用戶指導、預設和撤消功能為新用戶提供專家級結果。

Apreo FAQ

在切換到低真空模式之前，是否需要插入 GAD 探測器？

低真空模式可在沒有安裝任何配件的情況下使用。可達到的壓力范圍將達到 50 Pa。使用壓力限制孔 (PLA)，如氣體分析探測器 (GAD)，結果將進一步改善。此外，借助 GAD，壓力**可以達到 500 Pa。

浸沒透鏡的“選配”是什么意思？

配置系統時不需要浸沒透鏡，如果安裝，也不需要使用。每個 Apreo 可在 1 kV 下實現 1.3 nm 分辨率。通過安裝和激發浸沒透鏡，可在 1 kV 下提高到 1.0 nm。此外，還提供了額外的復合透鏡過濾功能。

靜電鏡筒關閉時，您可以使用浸沒嗎？

原則上來說沒有。加速管和浸沒透鏡均打開時可以獲得**效果。沒有僅用于浸沒的明確使用情況。默認情況下，Apreo 在操作時開啟加速管，在必要時開啟浸沒。

鏡筒內探測器（T1、T2、T3）是否能在 TV 速率下工作？

是的，可以工作。

您說在傾斜樣品上不可能實現電子束減速。為什么？

電子束減速 (BD) 在樣品和極片之間形成了一個靜電場。使用傾斜的樣品，場線將成一定角度，這會在圖像中導致歪曲。這也發生在具有較大地形特征的樣品上。因此，即使 BD 是一個非常有用的功能，并且是 Apreo 的標配功能，它也不能在所有情況下使用。因此，Apreo 不依靠 BD 來實現其分辨率。對于浸沒系統，在不使用 BD 時，在 1 kV 下的分辨率為 1.0 nm，在不使用浸沒透鏡時，在 1 kV 下的分辨率為 1.3 nm。