高品質(zhì)的圖像

通過(guò)改進(jìn)電子光學(xué)系統(tǒng)，使圖像質(zhì)量更高，分析更快。

減少了充放電現(xiàn)象

新的掃描方式能抑制非導(dǎo)電性樣品的荷電效應(yīng)。

低真空模式(LV)

低真空壓力范圍從10 Pa 至 650 Pa，拓寬了可以觀察的樣品材料的范圍。

樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)

全自動(dòng)5 軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)提高了尋找感興趣的區(qū)域（ROI）的速度。使用導(dǎo)航系統(tǒng)（選配件）在彩色圖像上能迅速到達(dá)感興趣的區(qū)域。

大型樣品室和樣品臺(tái)。

能容納大型、較重的樣品，可裝載**尺寸為200 mm（φ）× 80 mm（ H）、重達(dá)2 kg 的樣品。

**幾何設(shè)計(jì)的分析接口。

多個(gè)接口可以安裝EDS、EBSD 和WDS 等附件， EDS 和EBSD 處于同一平面，此外，還能安裝兩個(gè)相隔180 度的EDS 檢測(cè)器用于高通量的顯微分析。