博曼O系列產(chǎn)品概述：

O系列采用毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu)，擁有精準(zhǔn)的測(cè)試性能，同時(shí)能實(shí)現(xiàn)極小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細(xì)管結(jié)構(gòu)取代了安裝在博曼標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型中的準(zhǔn)直器組件。由于多導(dǎo)毛細(xì)管可以傳遞數(shù)百倍的能量信號(hào)，可以有效提高到達(dá)樣品表面的入射X射線強(qiáng)度。O系列配備高分辨率的SDD探測(cè)器，在短時(shí)間內(nèi)捕捉并處理大量數(shù)據(jù)，在短時(shí)間內(nèi)滿足極小斑點(diǎn)的測(cè)量的同時(shí)獲取精準(zhǔn)的測(cè)量結(jié)果（準(zhǔn)確性和重復(fù)性）。

該系列采用80μm毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu)，同時(shí)配備可處理更高計(jì)數(shù)速率的高分辨率SDD硅漂移探測(cè)器。O系列的相機(jī)具有更大的放大倍數(shù)，擁有45x視頻放大和5x數(shù)碼變焦。一個(gè)可編程的XY樣品臺(tái)也是標(biāo)準(zhǔn)配置。O系列的焦距非常接近，所以使用時(shí)樣品必須平整。

博曼O系列可滿足以下類型用戶的需求：

- 極小的樣品，如半導(dǎo)體，連接器或PCB

- 需要測(cè)試多個(gè)樣品的多個(gè)位置

- 需要測(cè)量非常薄的涂層（<100nm）

- 需要在短時(shí)間內(nèi)完成測(cè)量（1-5秒）

- 符合IPC-4552A

博曼O系列產(chǎn)品參數(shù)：

關(guān)于美國(guó)博曼：

美國(guó)博曼（Bowman）是高精度臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀供應(yīng)商，擁有近40年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的鍍層檢測(cè)技術(shù)和先進(jìn)的軟件系統(tǒng)，可精準(zhǔn)高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時(shí)測(cè)量包含基材在內(nèi)的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時(shí)，博曼XRF系統(tǒng)也可以測(cè)量高熵合金（HEAs）。