產品簡介

HCP621G-PMH專為變溫霍爾效應測試測試。探針臺的臺體全部由非磁性材料制作。其可在 -190℃ ~ 600℃ 范圍內控溫，同時允許探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個氣密腔，可往內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。

功能特點

非磁性材料制作的探針臺，專為變溫霍爾效應測試設計

-190℃~600℃ 可編程控溫（負溫需配液氮制冷系統）

28 mm x 30 mm加熱區

可充入保護氣體的氣密腔

BNC接口四探針，手動點針 *可選三同軸接口，用于pA級測試

可選增設腔內接線柱（樣品接電引線）

可從溫控器或電腦軟件控制，可提供軟件SDK

*可做定制或改動，詳詢上海恒商

溫控參數

溫度范圍

-190℃ ~ 600℃（負溫需配液氮制冷系統）

傳感器/溫控方式

100Ω鉑RTD / PID控制（含LVDC降噪電源）

加熱/制冷速度

+80℃/min （100℃時）

-50℃/min （100℃時）

加熱/制冷速度

±0.01℃/min

溫度分辨率

0.01℃

溫度穩定性

±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）

軟件功能

可設溫控速率，可設溫控程序，可記錄溫控曲線

電學參數

探針

默認為錸鎢材質的彎針探針 *可選其他種類探針

探針座

杠桿式探針支架，點針力度更大，電接觸性更好

點針

手動點針，每個探針座都可點到樣品區上任意位置

探針接口

默認為BNC接頭，可選三同軸接口

*可增設腔內接線柱（樣品接電引線）

樣品臺面電位

默認為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸接口

霍爾測試

臺體為非磁性材料制作，可用于變溫霍爾效應測試

光學參數

適用光路

反射光路 *另有透射光路型號

窗片

可拆卸與更替的窗片

*小物鏡工作距離

8.5 mm *截面圖中WD

上蓋窗片觀察

窗片范圍φ38mm，大視角±60.7° *截面圖中θ1

負溫下窗片除霜

吹氣除霜管路