在工業及科研領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析，同時對分析面積及靈敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，貴金屬檢測等。 黃金珠寶、牙科合金材料及其他稀有金屬的分析要求高精度，非破壞性而且測量點小。德國斯派克分析儀器公司**推出的SPECTRO MIDEX　X 射線熒光能譜儀正是滿足了這一要求，可*迅速、準確地提供分析數據。根據市場要求，德國斯派克分析儀器公司對儀器進行了擴展而優化，使SPECTRO MIDEX 儀器在分析性能和使用靈活性方面獨樹一幟。

　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統，集準直、聚焦、樣品激發于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX　適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm，樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時，樣品的測量精度為0.15%。SPECTRO MIDEX　也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。

　　SPECTRO MIDEX 不僅僅適用于珠寶行業、貴金屬檢驗機構，海關商檢、造幣工業等，還可完成其它分析任務如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。

技術參數：

• 激發

- Mo 靶X光管

**功率：30W，**電壓：48kV

- 測量點尺寸

Midex SD: 1 mm， Midex LD: 1.2 mm

樣品室

- 可顯示樣品的攝像系統(可調焦)

- 手動調節樣品臺，樣品定位簡便

- 馬達驅動精確移動的XYZ樣品臺，

**行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(寬x深x高)，

**樣品重量：3kg/6.6 lbs

計算機

- 外置式計算機系統，Windows

操作系統，

- 鍵盤，鼠標，顯示器，打印機

- 菜單式軟件，光譜儀參數調整和

數據評估及計算，元素成分及分布顯示

檢測器

- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測器:

Midex SD: 10 mm2， Midex LD: 30 mm2

- 以Mn Kα線，在測量計數率為

10，000脈沖計數時， 能量分辨率：FWHM< 160 eV

- 微處理器控制的檢測器和讀出電路

- 脈沖計數率可達250，000 cps

光譜儀數據

- 電壓：95-120V/200-240V，50/60 Hz，

- 光譜儀能耗：200W

- 儀器尺寸 寬x 深 x 高，單位mm

580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”

- 底座尺寸寬x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”

- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs，根據不同配置

分析

- 用于合金元素分析的基本參數程序FP +

- 塑料及復合材料的RoHS指令檢測

環境條件

- 周圍環境溫度：5-30°C （41-85°F）

在20-25°C （68-77°F）下，可達到標定儀器性能

- 在 25°C (77°F)下相對濕度: 10-80 %，無冷凝，無蒸氣腐蝕，防塵

主要特點：

SPECTRO MIDEX X射線熒光能譜儀是**推出的第三代**產品，不僅可對樣品的微小區域進行快速無損的檢定，還可對超大樣品的表面（面積可達EC標準線路板規格的2倍， 233x160 mm）進行元素分布分析。

1 超大樣品室● 長：520 mm(20.5 '')● 寬：310mm(12'')

2 微聚焦分析，不需要破壞

3 自由樣品臺.

• 創新點

• 1.附帶FP實際金屬、貴金屬、RoHS分析、無鹵化塑膠回歸的檢測曲線，集多種應用于一身。該曲線采用大量金屬及貴金屬標準樣品繪制，代表性強，實用性強，準確度高。分析數據可同時顯示K金值及含量。

2.采用高分辨，高計數率，電制冷的SDD檢測器，實際分辨率160eV，計數率高達250，000cps，非常適合高含量樣品的分析。該計數器具有先進性及維護簡單，無需繁瑣而危險的液氮添加過程。

3.激光配合CCD攝像機雙定位，樣品分析點可視，可調。定位精度高。分析點的照片可截屏，出具報告時可以粘貼在報告中。

4.分析速度快，可在180秒內完成各類樣品的分析任務

5.可選配狹縫交換器，測試點的尺寸可調，由0.2毫米至3.3毫米。可同時分析同一樣品的各個部分，一般分析點的尺寸為1毫米。

6.可選配XYZ微米級精度全自動樣品臺，完成點，線，面掃描。一次測量過程可同時分別完成多個樣品的分析。

7.超大樣品室，可完成超大樣品的分析，樣品的尺寸可以達到300*200*150mm（長*寬*高）。同時可完成超小樣品1mm樣品的分析