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半導體測試探針臺：KUP007，EMP100C，EMP100B，EMP50S
Model::KUP007
特點:
* x y z 15 mm-19mm-19mm
*分辨率:5微米
*線性運動
磁鐵底座/off-control(選項)
探索傾向
提示夾螺絲
同軸刀頭固定螺釘
同軸端座管
三軸端固定螺釘
三軸端托管
(低泄漏電流<100fA)
射頻臂(W/E或N/S)
8寸雷射修補變溫（負）探針量測系統
高溫高濕真空氣體照光Bending 可靠度量系統：
低成本探針臺：
4英寸探針臺：
EMP100C EMP100B
C 型探針臺 Model:EMP50S
測量解決方案系統
EMP100C 探針臺
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