拉曼-掃描電鏡聯用系統使您能夠在單一系統內全面地原位表征樣品性能。雷尼紹結構與化學成分分析儀（SCA）接口使掃描電鏡（SEM）具有了inVia的拉曼分析能力。

inVia和SCA接口提供了一種SEM內的分析技術，既補充了以光學顯微鏡為基礎的拉曼光譜，又克服了X射線能量散射譜（EDS）作為傳統SEM內的分析技術的局限性。采用雷尼紹SEM-拉曼聯用系統，您將受益于定位共同點的形貌、元素、化學、物理和電子分析。

聯用系統優勢：

1. 原位測量。無需在不同儀器之間移動樣品，節約時間，保證正確的分析區域。

2. inVia和SEM可同時作為獨立系統使用，而不會影響兩者的任何性能。

3. 得到豐富的樣品信息。使用SEM記錄樣品的高分辨圖像，并進行元素分析。增加拉曼分析樣品化學信息的能力，以識別材料和非金屬化合物。

4. 還可進行光致發光（PL）和陰極射線發光（CL）光譜測試。

選擇**的系統：

雷尼紹SCA接口具有非常高的普適性，可以配備到您現有的SEM上，基本不需要對SEM進行改裝。SCA可以安裝到所有主要供應商提供的SEM上，包括：

• Zeiss

• FEI

• TESCAN

• JEOL

• Hitachi