您可以將inVia拉曼的能力與掃描探針顯微鏡（SPM和AFM）聯用，在納米尺度上研究材料的組成、結構和特性。

聯用系統優勢：

1. 原位測量。無需在不同儀器之間移動樣品，節約時間，保證正確的分析區域。

2. inVia和SPM/AFM可同時作為獨立系統使用，而不會影響兩者的任何性能。

3. 得到豐富的樣品信息。使用AFM記錄樣品的形貌及相關物理特性。增加拉曼分析樣品化學信息的能力，以識別材料和非金屬化合物。

4. 可實現針尖增強拉曼測量（TERS），獲得納米尺度的化學信息。

選擇**的系統：

雷尼紹特殊設計的靈活的耦合臂可以用于將inVia與SPM或AFM光學整合。inVia具有極大的靈活性，能夠將其直接耦合到如下供應商的各種AFM和SPM上：

• Bruker Nano Surfaces

• Nanonics

• NT-MDT

• JPK

• Park