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突破介質漿料分散瓶頸!中毅三輥機助力介質漿料實現12μm超細分散
中毅 2025/06/21 | 閱讀:86
方案詳情:
在電子元器件制造領域,介質漿料的分散細度直接決定產品性能。隨著5G通信設備對高頻介質基板的需求激增,很多企業在開發新型高頻介質漿料時遭遇技術瓶頸。傳統分散設備始終無法將漿料細度控制在15μm以下,嚴重影響產品的介電損耗和信號傳輸穩定性。本文將揭秘中毅三輥機如何通過創新技術攻克這一行業難題。
① 高頻介電損耗(細度每降低5μm,損耗值可優化15%) ② 流延成型均勻性 ③ 燒結致密化程度 傳統設備因剪切力不足、溫升過高等問題,在50μm初始細度的基礎上始終無法突破15μm技術紅線。 山東某高端電子材料企業在研發高性能介質漿料過程中,面臨關鍵性技術挑戰——需將漿料粒徑嚴格控制在15μm以下技術指標。傳統分散設備因剪切力不足和溫控精度有限,多次工藝驗證均未能突破這一技術瓶頸。 針對這一難題,我們使用ZYTR-80E Plus 三輥研磨機來分散介質漿料。該設備通過三組高精度氧化鋯輥筒的轉速差(1:3:9)和微米級間隙控制(精度:1μm),產生可控的層流剪切場,實現團聚體的精準解聚和單分散體系的構建,完美保持材料的本征形貌特性。 介質漿料的分散方案 客戶名稱:山東某電子公司 實驗材料:介質漿料 實驗設備:ZYTR-80E Plus 三輥機+刮板細度計 實驗目的:通過三輥機研磨使材料分散的更加均勻并將細度降至15μm以下 實驗步驟 1、初始檢測 取少量材料使用刮板細度計進行初始細度檢測,刮板細度計顯示50μm以下,如下圖所示: 2、三級分散工藝 使用ZYTR-80E Plus 三輥機通過三級分散工藝進行漿料的分散和均質,確保粒徑穩定控制在 15μm 以下,并顯著提升漿料的光澤度與流變性能。 ① 粗輥階段:輥距50-25μm ② 二次精磨:輥距30-15μm ③ 終極均質:輥距10-5μm 三輥機運行過程中出料均勻無漏料,如下圖所示: 介質漿料研磨前后效果 3、出料檢測 取少量研磨后的材料再使用刮板細度計進行檢測,刮板細度12μm,如下圖所示: 4、結果分析 使用中毅科技的ZYTR-80E Plus 三輥機,對比刮板細度計結果可以看出: 1、細度突破:從初始50μm降至12μm,降幅達76%。 2、工藝優勢: ① 間隙直觀可量化,便于后續工藝直接轉量產,徹底解決傳統工藝"小試可行,放大失效"的行業痛點。 ② 良品率大大提升。 目前,該技術突破已成功應用于: ① 5G基站介質濾波器漿料(介電常數一致性提升至±0.15) ② 毫米波雷達基板材料(介電損耗降至0.0008@28GHz) ③ 高密度集成電路封裝介質(線寬精度突破10μm級) 中毅的三輥機正持續賦能電子漿料領域,并已全面覆蓋膠粘劑、油墨涂料、電子工業、新能源、納米新材料、醫藥、化妝品等領域。現已形成從實驗室型到工業級(處理量可達450L/h)的全套解決方案,為先進電子制造提供精密分散保障。 相關產品 更多![]()
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