材料表征領域的領導者Micromeritics麥克儀器公司將舉辦《顆粒、粉體、膜（P3）的分析與表征技術研討會》，分享國際領先的材料表征技術及實際應用，為用戶的材料分析與表征提供完整性解決方案。誠摯邀請您出席本次研討會！

時間：2019年9月19日全天

地點：上海大華錦繡假日酒店

費用：免費

內容：

顆粒、粉體、膜的特性與綜述；

顆粒粒度分析：電阻法，X沉降法與亞篩分法

顆粒形態分析：動態圖像法

顆粒粉體分析的樣品制備：取樣，縮樣與分散

孔徑分析：氣液與液液孔徑分析方法

粉體流動性分析

咨詢電話：021-51085884-807

報名網址：

研討會主要主講人：