SEM2000是一款基礎款的多功能分析型鎢燈絲掃描電鏡。20?kV分辨率可以做到3.9?nm，支持升級30?kV電壓，可觀察亞微級尺度樣品的微觀結構信息。擁有比臺式電鏡更大的移動范圍，適用于快速篩選待測樣品，更多的擴展接口，可搭載BSED、EDS等附件，使應用領域更廣。

產品特點

簡潔的操作界面

*軟件界面僅供參考

純中文的操作界面

功能設計簡單易操作。符合國人使用習慣，即使是新手用戶，簡單了解后也能快速上手。

完善的自動化功能

自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散，均可一鍵調節，提高工作效率。

豐富的測量工具

長度、面積、圓度、角度等測量功能強大的照片管理和預覽、編輯功能。

特色功能

光學導航

想看哪里點哪里，導航更輕松

標配光學導航攝像頭，可拍攝高清樣品臺照片，快速定位樣品。

防撞設計

對新手更友好的防碰撞設計，**限度保護敏感單元。

一鍵成像

*軟件一鍵成像，新手也能輕松駕馭。

分析距離

**分析距離和成像距離二合一，輕松體驗優質性能。

多種信息同時成像

SEM2000軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像?？赏瑫r觀察到樣品的形貌信息和成分信息。

分辨率指標

SE：3.9 nm @20 kV

BSE：4.5 nm @ 20 kV

豐富的擴展性

高靈敏度背散射探測器

· 多通道成像

探測器設計精巧，靈敏度高，采用4分割設計，無需傾斜樣品，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

四個單通道的陰影像

成分像

· 二次電子成像和背散射電子成像對比

背散射電子成像模式下，荷電效應明顯減弱，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。

鐵礦石-（SE）

鐵礦石-（BSE）

能譜

金屬夾雜物能譜面掃分析結果。

電子背散射衍射

鎢燈絲電鏡束流大，完全滿足高分辨EBSD的測試需求，能夠對金屬、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。 該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖，能夠識別晶粒大小和取向，判斷晶界和孿晶，對材料組織結構進行精確判斷。

應用案例

新米胚乳淀粉顆粒顯微結構

加速電壓：10 kV / 放大倍率：×5000

鹽

加速電壓：1 kV / 放大倍率：×2000

纖維截面

加速電壓：7 kV / 放大倍率：×1000

高分子透鏡陣列

加速電壓：15 kV / 放大倍率：×200

載催化劑鎳網

加速電壓：20 kV / 放大倍率：×200

仲鎢酸銨

加速電壓：5 kV / 放大倍率：×1000

MnS夾雜

加速電壓：15 kV / 放大倍率：×500

金屬斷口

加速電壓：20 kV / 放大倍率：×200

負極碳包硅

加速電壓：10 kV / 放大倍率：×3000

干法拉伸薄膜

加速電壓：3 kV / 放大倍率：×5000

磷酸鐵鋰

加速電壓：15 kV / 放大倍率：×5000

鈷酸鋰

加速電壓：15 kV / 放大倍率：×5000

PCB板

加速電壓：10 kV / 放大倍率：×100

PCB板（車燈）

加速電壓：10 kV / 放大倍率：×100

銅箔生箔

加速電壓：10 kV / 放大倍率：×10000

芯片

加速電壓：15 kV / 放大倍率：×500

紅翅鶴頂粉蝶

加速電壓：3 kV / 放大倍率：×5000

密蒙花中藥顆粒

加速電壓：3 kV / 放大倍率：×2000

槲寄生中藥原粉

加速電壓：3 kV / 放大倍率：×2000

片球菌屬

加速電壓：15 kV / 放大倍率：×30000

產品參數