2010年9月27-29日，北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司閃亮登場中國顆粒學(xué)會唯一主辦的粉體/ 散裝行業(yè)盛會—IPB 2010 第八屆國際粉體工業(yè)/散裝技術(shù)展覽會暨會議，展位號1520。此次盛會主要展示了自主研發(fā)的全套JW系列（流動色譜法和靜態(tài)容量法）比表面及孔隙度分析儀，以及組成儀器的關(guān)鍵零部件。
  JW系列動態(tài)智能化比表面儀，尤其JW-DA型，是目前國內(nèi)最先進的動態(tài)比表面儀，智能化、精度高、速度快、性能穩(wěn)，特別適合于電池材料和小比表面材料的測定。此款儀器不但在精美的外觀工藝設(shè)計上吸引了眾多客戶眼球，而且更重要的是在性能技術(shù)參數(shù)上不斷受到客戶的嘖嘖稱贊。
  靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀在測試范圍和測試精度上趨近國際水平，部分指標(biāo)已趕超國際先進水平。作為中國比表面及孔徑分析儀的最權(quán)威專業(yè)生產(chǎn)商，北京精微高博具有獨立的自主知識產(chǎn)權(quán)，獨有國內(nèi)領(lǐng)先技術(shù)和高精密分析儀，會一如既往的在物性技術(shù)研究領(lǐng)域開拓創(chuàng)新，不斷推進分析儀在各行業(yè)中的廣泛應(yīng)用。