中國粉體網訊 隨著新能源汽車、5G、人工智能、物聯網等行業的蓬勃發展，以碳化硅、氮化鎵為代表的第三代寬禁帶半導體材料產業規模不斷擴大，先進陶瓷在半導體行業將迎來更大的應用市場。
從第一屆半導體行業用陶瓷材料技術研討會組委會獲悉，本屆會議將于2022年7月13日在濟南舉辦。北京歐波同光學技術有限公司作為參展單位邀請您共同出席。
北京歐波同光學技術有限公司成立于2003年，是一家材料分析數字化解決方案服務商。在持續發展的過程中，歐波同集團始終堅持“讓實驗更簡單”的發展主線，不斷完善在工業領域能夠提供的多樣技術服務。歐波同始終堅持以技術服務為宗旨，不斷發展成為工業分析行業的技術型企業。旗下擁有科學儀器銷售、智慧實驗室解決方案、第三方檢測服務、技術服務等業務板塊。 在我國科研領域發展的關鍵時期，歐波同充分利用互聯網大數據概念，通過持續的科研投入，掌握計算機視覺和圖像識別技術，實現AI技術和工業分析技術的跨界融合，加快工業分析領域的場景化發展進程。
產品介紹
1、Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡
新一代Axia ChemiSEM掃描電鏡，可進行樣品成分信息的采集、處理和展示；依托先進鏡筒技術，保持系統始終處于穩定狀態。
新一代Axia ChemiSEM掃描電鏡，可進行樣品成分信息的采集、處理和展示；依托先進鏡筒技術，保持系統始終處于穩定狀態，可ju焦樣品采集數據，提供高質量圖像；采用全開門式設計，耐用性和靈活性更高；可搭載多款掃描電鏡軟件實現多種自動化功能；簡約化設計，全方面性能出色，可表征各種不同類型材料，提供全面的信息。其成像平臺即時可用，集成實時定量能譜面分析功能，成像即刻并融合成分信息，專為快速分析而設計，操作輕松自如。
產品參數
發射源：預對中鎢燈絲
分辨率：
3.0nm@ 30kV（SE）；8.0 nm@ 3kV（SE）
放大倍數：5 ~ 1,000,000×（寶麗來相紙放大）
加速電壓范圍：200V ~ 30kV
探針電流范圍：可達到2μA，連續可調
X-Ray工作距離：10 mm，EDS檢出角：35°
樣品室：內寬280mm，端口10個
樣品臺：五軸全自動馬達驅動
☆ X=120 mm,
☆ Y=120 mm,
☆ Z=55 mm,
☆ T=-15o~90o,
☆ R=360o （連續旋轉）
☆ 承重 10 kg
探測器系統：
☆ 高真空二次電子探測器ETD
☆ 可伸縮式背散射探測器BSED
☆ 樣品室內紅外相機CCD
☆ 圖像導航彩色光學相機Nav-Cam+™
☆ 具有ChemiSEM技術的TrueSight X EDS 探測器
控制系統：
☆ 操作系統：Windows 10
☆ 圖像顯示：24寸LCD顯示器，高顯示分辨率1920×1200
☆ 支持用戶自定義的GUI，可同時實時顯示四幅圖像
☆ 軟件支持Undo和Redo功能
實時成分信息：同步掃描獲取多種信號時執行能譜分析，實時檢測形貌與元素信息；
成像平臺即時可用：只需關注數據采集，不必憂慮電鏡條件設置；
快速獲得數據：多種成像和掃描策略，優化圖像采集效果并提升系統處理能力；
靈活的樣品臺設計：全開門式設計，大樣品可輕松加載到樣品倉內，10 kg；
成像性能：提供低真空模式和電子束減速模式用于消除荷電效應。
2、Apreo 2 超高分辨場發射掃描電鏡
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發射掃描電鏡搭載實時元素成像功能和先進的自動光學系統，實現灰色區域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發射掃描電鏡搭載實時元素成像功能和先進的自動光學系統，實現灰色區域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。
Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高質量成像性能，采用了創新性的末級透鏡設計，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實現ji佳成像及分析性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基礎上，新一步優化了高分辨成像能力，并且增設許多新功能提升其易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平臺上引入了SmartAlign（zhi能對中）技術，不再需要用戶手動進行調整操作，而且，FLASH自動執行精細調節工作，只需移動鼠標幾次，就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚 焦矯正。此外，Apreo 2 SEM可以在10mm分析工作距離下具有1nm分辨率的SEM，遠的工作距離不再意味著低分辨成像，系統還可 升 級實時元素譜/圖成像功能，顛覆了幾十年來傳統SEM-EDS固有的元素分析流程，將元素分析效率提升2倍有余。 Apreo 2 SEM，任何用戶都可以輕松地得到 優 質的分析效果。
產品參數
發射源：高穩定型肖特基場發射電子槍
分辨率：
加速電壓范圍：200 V ~ 30 kV
著陸電壓范圍：200 eV ~ 30 keV
探針電流范圍：1 pA ~ 50 nA，連續可調（可選配400 nA）
最 大水平視場寬度：10 mm WD時為3 mm（相當于 最 低放大倍率29倍）
X-Ray工作距離：10 mm，EDS檢出角35°
樣品室：從左至右為340mm寬的大存儲空間，樣品室可拓展接口數量12個，含能譜儀接口3（其中2個處于180°對角位置）
樣品臺：五軸優中心全自動馬達驅動X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o （連續旋轉）
多用途SEM樣品安裝載物臺，可同時放置 18 個標準樣品座（φ12mm）
探測器系統：
樣品室二次電子探測器ETD
鏡筒內背散射電子探測器T1
鏡筒內二次電子探測器T2
鏡筒內二次電子探測器T3（選配）
樣品室內IR-CCD紅外相機（觀察樣品臺高度）
圖像導航彩色光學相機Nav-Cam+™
樣品室低真空二次電子探測器（選配）
可伸縮透鏡下背散射探測器（選配）
控制系統：
操作系統：Windows 10
圖像顯示：24寸LCD顯示器，最 高顯示分辨率1920×1200
支持用戶自定義的GUI，可同時實時顯示四幅圖像
軟件支持Undo和Redo功能
☆ 全面解析
全面的納米和亞納米分辨率性能，適用于納米顆粒、粉末、催化劑、納米器件、大塊磁性樣品等材料；
☆ 極佳的靈活性
非常靈活的處理范圍廣泛的樣品類型，包括絕緣體，敏感材料，或磁性樣品，并收集對您的應用重要的數據；
☆ SmartAlign技術
使用SmartAlign技術(智 能調整光學系統)，實現光學系統自動調整，減少維護時間；
☆ 先進的自動化
先進的自動化包括FLASH自動圖像微調、撤銷、用戶向導、Maps成像拼接的FLASH技術；
☆ 實時定量EDS
元素信息觸手可及，利用ColorSEM技術，提供實時元素面分布成像定量分析，結果獲取更加快速、簡便；
☆ 標準工作流操作
內置了User Guidance（用戶工作流）功能，無論是初學者還是經驗豐富，都能夠快速上手，并穩定獲取實驗數據。
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會務組
聯系人：翟經理
電話：18669588168（同微信）
Email:3410528686@qq.com
