中國粉體網訊 近日，北京科技大學材料科學與工程學院張躍教授研究團隊指導的博士生李培峰在一維納米材料在各種場下的服役方面的研究取得新進展，并以第一作者身份在《Nano Letters》(影響因子12.94)和《ACS Applied Materials and Interfaces》(影響因子5.90)分別發表論文一篇。
在張躍教授的指導下，李培峰與中科院物理所的合作者利用原位TEM機械共振，研究了ZnO微/納米線在高周應變下的疲勞行為。系統研了ZnO微/納米線的彈性模量隨直徑的變化以及ZnO微/納米線共振振幅在阻尼效應作用下隨共振時間及周次衰減的區別。ZnO微/納米線經過108−109周次共振都顯示了良好的疲勞性能，而遭受電子束輻照10 min后的ZnO納米線共振幾秒后即發生斷裂，這在國際上尚屬首次發現。
研究結果為我們設計、構建、優化及應用基于ZnO納米材料的力電納米器件提供了有益的指導，也為工作在紫外光、X射線下的納米材料及器件的安全服役提供了參考。
另外，李培峰還利用自己實驗室搭建的納米操控系統研究了ZnO納米線在電場中的服役行為。研究發現ZnO納米線電致損傷的閾值電壓隨直徑的增大呈線性增大，而電流密度隨直徑的增大呈指數減小。并提出了熱核-殼模型對ZnO納米線的電致損傷機制進行解釋。納米材料電致損傷研究對指導光電、力電和壓電納米器件的實際應用是非常有必要的。
此外一系列利用AFM研究ZnO納米線在力場及力電耦合場中的服役行為的研究結果尚未公開發表。
在張躍教授的指導下，李培峰與中科院物理所的合作者利用原位TEM機械共振，研究了ZnO微/納米線在高周應變下的疲勞行為。系統研了ZnO微/納米線的彈性模量隨直徑的變化以及ZnO微/納米線共振振幅在阻尼效應作用下隨共振時間及周次衰減的區別。ZnO微/納米線經過108−109周次共振都顯示了良好的疲勞性能，而遭受電子束輻照10 min后的ZnO納米線共振幾秒后即發生斷裂，這在國際上尚屬首次發現。
研究結果為我們設計、構建、優化及應用基于ZnO納米材料的力電納米器件提供了有益的指導，也為工作在紫外光、X射線下的納米材料及器件的安全服役提供了參考。
另外，李培峰還利用自己實驗室搭建的納米操控系統研究了ZnO納米線在電場中的服役行為。研究發現ZnO納米線電致損傷的閾值電壓隨直徑的增大呈線性增大，而電流密度隨直徑的增大呈指數減小。并提出了熱核-殼模型對ZnO納米線的電致損傷機制進行解釋。納米材料電致損傷研究對指導光電、力電和壓電納米器件的實際應用是非常有必要的。
此外一系列利用AFM研究ZnO納米線在力場及力電耦合場中的服役行為的研究結果尚未公開發表。
