隨著計(jì)算機(jī)和數(shù)字相關(guān)技術(shù)的發(fā)展,掃描電鏡三維重構(gòu)技術(shù)已經(jīng)成為新技術(shù)應(yīng)用研究的熱點(diǎn)。建立納米纖維高度顯微攝影方法,不但能直觀簡(jiǎn)便得出樣品的高度特征,而且能避免對(duì)樣品的破壞,保證樣品的完好無(wú)損。這對(duì)深入了解新型功能材料、生物材料、納米材料尤其是細(xì)胞成分的空間相對(duì)位置和生物大分子的空間結(jié)構(gòu)及其與功能關(guān)系, 都有十分重大的意義。
驗(yàn)收鑒定委員組認(rèn)為該項(xiàng)目研究方案合理,技術(shù)路線明確可行,研究過(guò)程科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn),通過(guò)對(duì)微納米標(biāo)樣和S1000標(biāo)樣的臺(tái)階結(jié)構(gòu)進(jìn)行三維重構(gòu),實(shí)現(xiàn)了掃描電鏡在微納米級(jí)高度測(cè)量中的應(yīng)用,使微納米電子元器件三維結(jié)構(gòu)的獲取成為可能,一定程度上實(shí)現(xiàn)了納米纖維高度的無(wú)損測(cè)量,完善了新材料及器件的三維信息獲取體系。
鑒定委員會(huì)認(rèn)為,該項(xiàng)目研究成果突出,達(dá)到國(guó)內(nèi)領(lǐng)先水平,可應(yīng)用于微探針、場(chǎng)致電子發(fā)射、太陽(yáng)能電池、納米發(fā)電機(jī)、氣體傳感器等領(lǐng)域的微電子器件等高端技術(shù)企業(yè)產(chǎn)品的三維重構(gòu)和高度測(cè)量。一致同意通過(guò)驗(yàn)收鑒定,并盡快推廣應(yīng)用,為微電子產(chǎn)業(yè)、新材料產(chǎn)業(yè)與高端制造產(chǎn)業(yè)等廣州“十二五”期間重點(diǎn)打造的戰(zhàn)略新興產(chǎn)業(yè)服務(wù),為有效配合政府與企業(yè)推進(jìn)廣州作為國(guó)家中心城市的建設(shè)、加快珠三角地區(qū)現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)體系的培育、促進(jìn)地方支柱產(chǎn)業(yè)水平的提高作出突出貢獻(xiàn)。