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場發射透射電子顯微鏡圖片
本圖片來自北京依維特技術服務有限公司提供的場發射透射電子顯微鏡，型號為TECNAI G2 F30的FEI其他測試設備，產地為日本，屬于品牌，參考價格為面議，公司還可為用戶供應高品質的球差電鏡測試、原位XPS測試（X射線光電子能譜儀）等產品。北京依維特技術服務有限公司是中國粉體網的會員，合作關系長達3年，工商信息已通過人工核驗，獲得粉享通誠信認證，請放心選擇！
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北京依維特技術服務有限公司
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