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JW-BK200系列 高性能比表面積及孔徑分析儀（雙站）品牌
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JW-BK200系列
高性能比表面積及孔徑分析儀（雙站）
孔徑范圍
0.35nm-500nm
比表面范圍
0.0001m2/g-無上限
中值孔徑重復(fù)性（SD）
≤0.02nm
比表面重復(fù)性（RSD）
±1%
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