誤差率：
-分辨率：
優于100eV@20keV重現性：
-儀器原理：
其他分散方式：
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透射彎晶譜儀，利用勞厄彎晶將不同能量的X射線衍射到記錄面上的不同位置，同時利用X射線成像板進行探測。該譜儀具有測譜能量范圍寬、光譜分辨?等特征，特別適用于激光與固體靶相互作用產生的特征能譜診斷。
透射彎晶譜儀，利用勞厄彎晶將不同能量的X射線衍射到記錄面上的不同位置，同時利用X射線成像板進行探測。該譜儀具有測譜能量范圍寬、光譜分辨?等特征，特別適用于激光與固體靶相互作用產生的特征能譜診斷。產品特點/ CHARACTERISTIC
● ?主彎晶器件
● ?能譜分辨
● 寬能譜范圍
● 可切換式探測模組
● 全譜直讀
● 可切換式激光準直系統
● 光學系統結構: 透射彎晶系統
● 分光器件： α-Quartz<10-11>
● 能量分辨率： 優于100eV@20keV
● 探測器類型： 可切換式IP板
● 激光器切換重復精度： ±10μm
| 光譜儀型號 | 特點 | 能量范圍 | 分光器件 | 分辨率 |
| xSpeC-Laue-1 | 常規款 | 10-100keV | a-Quartz<10-11> | 優于100eV@20kev |
| xSpeC-Laue-2 | 高分辨 | 20-120keV | a-Quartz<10-11> | 優于50eV@20keV |
| xSpeC-Laue-3 | 緊湊型 | 20-80keV | a-Quartz<10-11> | 優于100eV@20keV |
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