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20/30 XL大樣品顯微分光光度計品牌
光量科技產地
北京樣本
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20/30 XL顯微分光光度計的設計允許您測量具有微觀特征的大尺度樣品的光譜,圖像,和薄膜厚度。“XL”代表“超大”,具有微觀特征的大尺度樣品是20/30 XL的樣本類型。為滿足您的需求,20/30 XL集成了光學、電子、光譜學和軟件方面的**技術,以****的速度和能力提供**的性能。甚至CRAIC儀器的易用性得到了極大的改進,使其成為紫外-可見-近紅外顯微光譜學的佼佼者。
20/30 XL顯微分光光度計允許您測量UV-visible-NIR范圍內的透射,吸光度,反射率,發射和光致發光微光譜的特征,樣品尺寸小于一微米的跨度。然而,根據儀器的配置,樣品的大小基本上可以是無限的。現在你可以在**的平板顯示器像素內繪制顏色變化,輕松測量300mm晶圓的薄膜厚度,或測量**藝術品的熒光。
同時,20/30 XL也可提供拉曼顯微光譜,高分辨率紫外顯微光譜,甚至近紅外顯微鏡光譜的測量。
20/30 XL顯微分光光度計使用簡單,提供無損測量和****的光譜數據。
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