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Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小，其表面的晶體結構發生變化，從而在電學、光學和化學活性等方面表現出獨特的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數，準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩定性的關鍵參數，Zeta電位越高，膠體系統就越穩定，反之，Zeta電位越低，膠體系統穩定性就越差，因此通過測量和調整體系的Zeta電位，就可以控制膠體的穩定性。因此，Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀廣泛應用于產品開發、生產、質量控制以及科學研究。
技術類型 | Zetatronix?939系列 查看詳情 采用多角度動態光散射技術，提供更高分辨率的粒度測量結果 | Zetatronix?929系列 查看詳情 采用背向動態光散射技術，可以測量高濃度樣品的粒度 | Zetatronix?919系列 查看詳情 采用經典動態光散射技術測量粒度 |
經典動態光散射（DLS） | √ | √ | |
背向動態光散射（BSDLS） | √ | √ | |
多角度動態光散射（MADLS） | √ | ||
測量角度 | 11°、90°、175° | 11°、175° | 11°、90° |
測量類型 | |||
粒度 | √ | √ | √ |
Zeta電位 | √ | √ | √ |
分子量 | √ | √ | |
溫度/時間趨勢 | √ | √ | √ |
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