Sigma 300

用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡

• 靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能

  將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。

  Sigma 300 具有極高的性價比，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。

• 基于成熟的 Gemini 技術

• Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場與磁場對光學性能的影響，并將場對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

• Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率。

• Gemini 電子束加速器技術確保了小的探測器尺寸和高的信噪比。

靈活的檢測器選項，獲取清晰圖像

• 使用新穎的ETSE和Inlens探測器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。

• 使用VPSE或C2D檢測器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

• 使用aSTEM檢測器生成高分辨率透射圖像。

• 使用HDBSD或YAG檢測器分析成分。

• 高級分析型顯微鏡

• 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合：Sigma 一流的背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束敏感的樣品。

• 在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。

• 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結果。

• 蔡司Sigma 300 可提供

集成式 EDS 解決方案

在低能量分析應用中同時實現高清晰度成像

Sigma Element 是一種集成式 EDS 解決方案，擁有高可用性和低電壓靈敏度。僅需使用一臺計算機來控制 EDS 和 SEM，進而大大提升了該集成化解決方案的易用性。同時，借助專門為顯微鏡和 EDS 操作設計的用戶界面可實現并行控制。

? 集成化：通過集成化，結合高清晰成像與快速分析，從而獲得不錯結果

? 定制化：根據不同的用戶需求定制軟件

? 靈敏度：獨特的氮化硅窗口增強低能X射線的探測靈敏度

• 拉曼成像與掃描電鏡聯用系統

  完全集成化的拉曼成像

  獲取樣品中化學結構的指紋信息：聚焦拉曼光譜成像可擴展您的蔡司Sigma 300 掃描電鏡性能。 分析獲得樣品分子結構和結晶信息。 通過拉曼成像與EDS數據可進行3D 分析并與SEM圖像關聯。完全集成化的拉曼成像掃描電鏡聯用系統使你充分發揮SEM和拉曼系統的功能。

用戶友好，操作簡單

SmartSEM Touch是現已有操作系統的附加組件，用于多用戶環境，是一種簡潔的用戶界面。

它同時為操作經驗豐富的專家用戶和初級用戶提供了簡便的操作。

基于實際的實驗室環境，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領域。

但是，非專業用戶（例如學生，接受培訓不久的人員或質量工程師）也需要使用SEM獲取數據，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP將非專業用戶的需求考慮在內，其用戶界面選項可滿足操作經驗豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。