工作模式 • 反射式NSOM，通過樣品反射光強度進行成像，掃描過程，樣品經由探針孔徑光照明，反射光耦合到顯微鏡物鏡，并經過PMT探測；

• 熒光NSOM允許局域熒光成像，樣品經由探針孔徑光照明，透射光經顯微鏡物鏡及濾光片，由PMT探測；

• 透射NSOM可以進行透明樣品的成像，透射光同樣被倒置光學顯微鏡收集并由PMT探測。

激光波長選項

Trestles 20/50/100 700-950nm

Mavericks65 1240-1270nm

Tamarak-Er 1540-1560nm

技術參數：

參數

掃描方式（根據樣品或探針可選）

測量頭掃描范圍 80×80×3.5um（+/-10%）

*小掃描步長 0.009nm

X，Y樣品臺移動范圍 5×5mm

移動精度 5um

樣品尺寸 可達Φ100×10mm

X，Y閉環控制平臺

X，Y范圍 100×100um

固有非線形 優于0.2%

精度 2nm

重復性 30nm（典型），小于全程0.2%

**承重 2Kg

照明激光器

脈沖長度 <50fs

輸出功率 >100mW

重復頻率 >80MHz

波長范圍 740-950nm

主要特點：

特 點

切向力反饋

納米精度光學成像

反射和透過工作模式

飛秒脈沖或波長可調連續激光照明

光譜測量（可選）