·在自然狀態下對材料進行原位研究：具有環境真空模式（ESEM）的獨特高分辨率場發射掃描電鏡

·較大程度縮短樣品制備時間：低真空和環境真空技術可針對不導電和/或含水樣品直接成像和分析，樣品表面無荷電累積

·在各種操作模式下分析導電和不導電樣品， 同步獲取二次電子像和背散射電子像

·安裝原位冷臺、珀爾帖冷臺和熱臺，可在-165°C 到1400°C 溫度范圍內進行原位分析

·**的分析性能，樣品倉可同時安裝三個EDS 探測器，其中兩個EDS端口分開180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD

·針對不導電樣品的**分析性能：憑借“壓差真空系統”實現低真空模式下的精確EDS 和EBSD 分析

·靈活、精確的優中心樣品臺，105°傾斜角度范圍，可全方位觀察樣品

·軟件直觀、簡便易用，并配置用戶向導及Undo（撤銷）功能，操作步驟更少，分析更快速

·全新創新選項，包括可伸縮RGB 陰極熒光（CL）探測器、1100°C 高真空熱臺和AutoScript（基于Python 的腳本工具API）