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X射線殘余應力分析儀
采用***的瑞士DECTRIS公司的線陣MYTHEN2 R探測器。速度快，線性好。
主要技術參數:
★測量方法：側傾固定ψ法，擺動法，殘奧測定，織構測定。
定峰方法：交相關法，半高寬法，拋物線法，重心法。
儀器精度：采用還原鐵粉作為標準試樣。 使用Cr靶Kα輻射，鐵粉（211）晶面，衍射角2θ測定誤差 在±0.015°以內；鐵粉應力測量值應穩定達到在±10MPa以內。
★測角儀型式：θ-θ掃描ψ測角儀
★２θ掃描范圍：120°～170°；
２θ掃描***小步距：0.01°
２θ掃描每步計數時間：0.1S～20S
ψ角范圍：0°～ 65°
ψ角擺動角度：0°～±6°
X射線管電壓：15～30kV，連續可調
X射線管電流：3～10mA，連續可調
X射線管靶材：Cr， Co， Cu， 其中Cr靶為常備，其余供選購。
衍射幾何：聚焦法
準直管直徑：提供產生直徑分別為?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的準直管。
測角儀重量：10 kg
簡裝置總重量：45 kg
供電要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz
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