X射線殘余應力分析儀

采用***的瑞士DECTRIS公司的線陣MYTHEN2 R探測器。速度快，線性好。

主要技術參數:

★測量方法：側傾固定ψ法，擺動法，殘奧測定，織構測定。

定峰方法：交相關法，半高寬法，拋物線法，重心法。

儀器精度：采用還原鐵粉作為標準試樣。 使用Cr靶Kα輻射，鐵粉（211）晶面，衍射角2θ測定誤差 在±0.015°以內；鐵粉應力測量值應穩定達到在±10MPa以內。

★測角儀型式：θ-θ掃描ψ測角儀

★２θ掃描范圍：120°～170°；

２θ掃描***小步距：0.01°

２θ掃描每步計數時間：0.1S～20S

ψ角范圍：0°～ 65°

ψ角擺動角度：0°～±6°

X射線管電壓：15～30kV，連續可調

X射線管電流：3～10mA，連續可調

X射線管靶材：Cr， Co， Cu， 其中Cr靶為常備，其余供選購。

衍射幾何：聚焦法

準直管直徑：提供產生直徑分別為?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的準直管。

測角儀重量：10 kg

簡裝置總重量：45 kg

供電要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz