X射線單晶衍射儀

X-ray Single Crystal Diffractometer System

1．用途及特點：

測定新化合物（晶態(tài)）分子的準(zhǔn)確三維空間（包括鍵長、鍵角、構(gòu)型、構(gòu)象乃至成鍵電子密度）及分子在晶格中的實際排列狀況；可以提供晶體的晶胞參數(shù)、所屬空間群、晶體分子結(jié)構(gòu)、分子間氫鍵和弱作用的信息以及分子的構(gòu)型及構(gòu)象等結(jié)構(gòu)信息。它廣泛用于化學(xué)晶體學(xué)、分子生物學(xué)、藥物學(xué)、礦物學(xué)和材料科學(xué)等方面的分析研究。

精確測定無機(jī)物、有機(jī)物和金屬配合物等結(jié)晶物質(zhì)的三維空間結(jié)構(gòu)和電子云密度，分析孿晶、無公度晶體、準(zhǔn)晶等特殊材料結(jié)構(gòu)；可精確測定無機(jī)分子、有機(jī)分子、礦質(zhì)材料以及大生物分子的結(jié)構(gòu)，提供全面的結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)，并可按不同要求提供各種結(jié)構(gòu)圖、動態(tài)圖。

2. 系統(tǒng)總體構(gòu)成：

高性能混合像素光子直讀探測器；

kappa 四圓測角儀；

X 射線金屬陶瓷管（Mo 或 Cu）；

X 射線發(fā)生器；

單毛細(xì)管光學(xué)器件；

晶體樣品液氮低溫系統(tǒng)；

晶體樣品監(jiān)視系統(tǒng)；

X 光管的循環(huán)冷卻水裝置；

計算機(jī)控制系統(tǒng)；

系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)收集及數(shù)據(jù)分析軟件。

3. 主要技術(shù)參數(shù)：

3.1 X 射線發(fā)生器和光路系統(tǒng)：

3.1.1 X 射線發(fā)生器**輸出功率: 3000W；

3.1.2 **管電壓/通道：60 KV；

3.1.3 **管電流/通道：50 ma；

3.1.4 電流電壓穩(wěn)定度： 8 小時內(nèi)變化不超過± 0.1%；

3.1.5 X 射線管保護(hù)：過電壓、過電流、冷卻水異常保護(hù)；

3.2 測角儀：

3.2.1 類型: kappa 四圓測角儀，步進(jìn)馬達(dá)定位，四個角度均可自由轉(zhuǎn)動，滿足常規(guī)晶體結(jié)構(gòu)分析和專業(yè)晶體學(xué)研究需要；

3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；

3.2.3 掃描速度范圍 0.005 - 3.0 度/秒；

3.2.4 theta 臂具有通用性，與公司所提供的其他探測器兼容；

3.3. 晶體對中監(jiān)視系統(tǒng)：CCD 攝像頭加放大鏡頭，安裝在儀器內(nèi)部用于樣品對心與調(diào)整；

3.4 探測器：DECTRIS Pilatus混合像素光子計數(shù)探測器；

3.5 高性能計算機(jī)實現(xiàn)儀器控制及數(shù)據(jù)采集；

3.6 系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)處理軟件：包括控制、維護(hù)、數(shù)據(jù)收集、數(shù)據(jù)還原和數(shù)據(jù)分析程序，以及處理孿晶和晶面吸收校正等功能。收集數(shù)據(jù)和還原數(shù)據(jù)同步進(jìn)行；

3.7 液氮低溫系統(tǒng)：溫度范圍 120 - 400 K，控溫精度：± 0.1 K。