metrolux夏克-哈德曼波前分析儀WFS

Metrolux夏克-哈德曼波前分析儀WFS3743-40-200可在線分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的測量光學器件的像差。可以用于手機和相機的鏡頭等光學透鏡質量控制。夏克-哈特曼式傳感器的波前監控器配合外部軟件可用于波前數據分析。

產品應用：

用于測量激光的波前；

測量光學器件的像差；

擴展的Raylux軟件用于數據分析；

用于透鏡的質量控制

產品參數：

測量精度: λ / 1000；

曝光時間: 10μs - 120 s ；

數據解析度: 12 Bit；

幀率： 15fps ；

微透鏡個數：45×35；

探測器類型： 2/3CCD”；

有效區域：8.97×6.71mm；

微透鏡大小：200μm；

焦距: 40 mm；

動態范圍：90 λ；

透鏡焦距: 7 mm；

曲率半徑: 14 mm ；

像素尺寸: 6.45μm；

像素: 1380 x 1040；

軟件界面