基于Phasics**的四波橫向剪切干涉技術，SID4-Dwir涵蓋了中紅外和遠紅外波段（3-5，8-14μm）。在中波紅外和長波紅外范圍具備高分辨率（160×120個測量點）。非常適合紅外目標與鏡頭測試或紅外激光束測量（CO2，OPO激光…）。

SID4-Dwir 光學器件測量自適應光學

特點：

由于其獨特的**技術技術，Phasics的SID4-Dwir波前傳感器具備以下特點：

1.高分辨率：160x120測量點

2.雙波長測量：3-5，8-14μm中遠紅外

3.消色差：可用于黑體輻射測量

4.高數值孔徑測量：無需外加透鏡

應用：

1.光學測量：SID4-Dwir是表征紅外目標的**工具（熱成像和安全視覺），紅外鏡頭（CO2激光）測量可出給MTF，PSF，以及澤尼克像差。消色差功能可在多波長下測試。

2.激光束測量：如CO2激光或紅外OPO激光光源的特性測量，SID4-Dwir提供了一個全面的光束特性（像差，M2，強度分布，光束參數…）

SID4-Dwir產品參數：