JEM-2100F 應(yīng)用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)。

利用200kV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實(shí)現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察，同時(shí)，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。

高亮度的場(chǎng)發(fā)射電子槍，輕松實(shí)現(xiàn)各種分析功能。

JEM-2100F**設(shè)計(jì)的側(cè)插式側(cè)角臺(tái)，在傾斜、旋轉(zhuǎn)、加熱、制冷時(shí)都不會(huì)造成機(jī)械飄移。

SJEM-2100F可與TEM， MDS， EDS， EELS， and CCD-camera實(shí)現(xiàn)一體化控制。