產品概述：

KEWLAB余弦校正器是一種可以收集180°的光譜輻射的采樣元件，從而避免光學采樣時由于光學接口幾何結構限制所引起的問題。

余弦校正器采用聚四氟乙烯漫射材料，對200～1100nm譜段進行優化。其中CC1與SMA接口的光纖連接，CC2與微型光譜儀連接，用于測量分析LED光、激光、UV-A和UV-B太陽輻射光、環境光和其它發光光源。

產品特點：

• 可收集180°視場角的光

• 采用聚四氟乙烯漫射材料

• 不同接口可定制

應用：

• 光源的光譜測量分析

技術參數：

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